| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| ·课题的提出及意义 | 第13-14页 |
| ·气体温度和浓度检测方法的研究现状 | 第14-16页 |
| ·气体温度的测量方法 | 第14-15页 |
| ·气体浓度的测量方法 | 第15-16页 |
| ·ARM 处理器体系结构简介 | 第16-18页 |
| ·课题研究内容及创新意义 | 第18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 测试原理与系统总体方案设计 | 第19-29页 |
| ·红外辐射吸收法测温的原理 | 第19-23页 |
| ·热辐射的基本概念 | 第19-20页 |
| ·普朗克(Planck)定律 | 第20页 |
| ·基尔霍夫(Kirchhoff)定律 | 第20-21页 |
| ·红外辐射法设计尾气温度传感器原理 | 第21-23页 |
| ·气体浓度红外检测的基本原理和方法 | 第23-26页 |
| ·红外气体分析的原理 | 第23-24页 |
| ·差分吸收法设计浓度传感器的原理 | 第24-25页 |
| ·红外光源和浓度探测器工作波长的选择 | 第25-26页 |
| ·系统总体方案设计 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 测试系统硬件设计 | 第29-52页 |
| ·红外传感器及其调理电路的设计 | 第29-39页 |
| ·红外光源的选型 | 第29-31页 |
| ·光源驱动电路设计 | 第31-34页 |
| ·红外探测器的选型 | 第34-36页 |
| ·红外探测器后续放大电路的设计 | 第36-39页 |
| ·ARM 处理器及最小系统电路设计 | 第39-46页 |
| ·ARM 处理器S3C4480 简介 | 第39页 |
| ·处理器的硬件配置 | 第39-41页 |
| ·ARM 系统电源电路设计 | 第41-42页 |
| ·时钟电路设计 | 第42-43页 |
| ·复位电路设计 | 第43-44页 |
| ·存储器系统设计 | 第44页 |
| ·JTAG 电路设计 | 第44-46页 |
| ·A/D 转换模块电路设计 | 第46-47页 |
| ·LCD 液晶显示模块电路设计 | 第47-49页 |
| ·串行通讯模块电路设计 | 第49-50页 |
| ·键盘电路模块设计 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 测试系统软件设计 | 第52-65页 |
| ·测试系统的软件主流程 | 第52-53页 |
| ·ADS1.2 简介和测试系统软件在ADS 下的开发 | 第53-56页 |
| ·ARM 的BOOTLOADER 启动代码设计 | 第56-58页 |
| ·数据采集处理程序设计 | 第58-60页 |
| ·液晶显示程序设计 | 第60-63页 |
| ·串口通讯程序设计 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 测试系统的调试 | 第65-83页 |
| ·印刷电路板的制作和抗干扰措施 | 第65-67页 |
| ·系统电路板的功能模块分步调试 | 第67-75页 |
| ·电源模块调试 | 第67-68页 |
| ·ARM 最小系统调试 | 第68-70页 |
| ·串口通讯模块调试 | 第70-71页 |
| ·LCD 液晶显示模块调试 | 第71页 |
| ·A/D 转换模块调试 | 第71页 |
| ·光源驱动电路和探测器放大电路的测试 | 第71-75页 |
| ·系统的整机调试和测试装置 | 第75页 |
| ·系统的标定和实验结果分析 | 第75-82页 |
| ·测试系统的标定 | 第75-81页 |
| ·实验结果与分析 | 第81-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第六章 总结和展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 致谢 | 第89-90页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第90-91页 |
| 附录I 系统测试装置 | 第91-92页 |
| 附录II 系统印刷电路板 | 第92页 |