| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·CMOS 图像传感器简介 | 第7-11页 |
| ·CMOS 图像传感器与CCD 图像传感器 | 第7-8页 |
| ·CMOS 图像传感器的历史、现状及发展前景 | 第8-9页 |
| ·影响CMOS 图像传感器图像质量的主要因素 | 第9-11页 |
| ·选题的意义 | 第11-12页 |
| ·本文内容及结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 全并行曝光五管像素工作原理 | 第13-29页 |
| ·半导体的光电效应 | 第13-19页 |
| ·CIS 有源像素工作原理 | 第19-23页 |
| ·三管有源像素工作原理 | 第19-22页 |
| ·四管有源像素工作原理 | 第22-23页 |
| ·全并行曝光五管像素工作原理 | 第23-29页 |
| ·全并行曝光与滚筒式曝光比较 | 第23-26页 |
| ·全并行曝光五管像素结构及工作时序 | 第26-27页 |
| ·全并行曝光五管像素结构的优缺点 | 第27-29页 |
| 第三章 CIS 全并行曝光五管像素复位噪声抑制方法 | 第29-49页 |
| ·CIS 中的噪声及其消除方法 | 第29-39页 |
| ·模式噪声 | 第29-30页 |
| ·随机噪声 | 第30-31页 |
| ·散粒噪声 | 第31-34页 |
| ·CIS 噪声消除方法 | 第34-39页 |
| ·有源复位噪声抑制技术 | 第39-44页 |
| ·有源复位的原理 | 第39-40页 |
| ·传统有源复位噪声抑制电路的效果及局限 | 第40-44页 |
| ·全并行曝光五管“带宽匹配”有源复位噪声抑制技术 | 第44-49页 |
| 第四章 “带宽匹配”复位噪声抑制电路的设计与仿真 | 第49-67页 |
| ·负反馈模块 | 第49-62页 |
| ·反馈放大器 | 第49-50页 |
| ·开关 | 第50-51页 |
| ·带隙基准 | 第51-58页 |
| ·偏压产生电路 | 第58-60页 |
| ·像素负载模块 | 第60页 |
| ·负反馈模块的工作时序 | 第60-61页 |
| ·负反馈模块的仿真 | 第61-62页 |
| ·复位信号产生模块 | 第62-67页 |
| ·复位信号产生模块的设计考虑 | 第62-63页 |
| ·3—8 译码器 | 第63-64页 |
| ·电阻序列 | 第64页 |
| ·1.8V 到3.3V 电压转换器 | 第64-66页 |
| ·复位信号产生模块的功能仿真 | 第66-67页 |
| 第五章 “带宽匹配”复位噪声抑制电路的测试及优化 | 第67-74页 |
| ·“带宽匹配”复位噪声抑制电路的测试 | 第67-72页 |
| ·随机噪声的测试方法 | 第67-68页 |
| ·“带宽匹配”复位噪声抑制电路的测试方法 | 第68页 |
| ·“带宽匹配”复位噪声抑制电路测试结果 | 第68-70页 |
| ·根据测试结果对电路复位噪声抑制效果的讨论 | 第70-72页 |
| ·“带宽匹配”复位噪声抑制电路的优化 | 第72-74页 |
| ·负反馈放大器的优化设计 | 第72-73页 |
| ·优化的负反馈放大器的仿真 | 第73-74页 |
| 第六章 总结及展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 附录 | 第79-83页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |