| 摘要 | 第3-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-38页 |
| 1.1 硅基载流子色散型调制器的研究背景与现状 | 第12-27页 |
| 1.1.1 硅基载流子色散型调制器的研究背景 | 第12-18页 |
| 1.1.2 硅基载流子色散调制器研究简介 | 第18-27页 |
| 1.2 硅基载流子耗尽型马赫曾德尔调制器的研究现状与面临问题 | 第27-35页 |
| 1.2.1 硅基载流子耗尽型马赫曾德尔调制器的研究现状 | 第27-33页 |
| 1.2.2 硅基载流子耗尽型调制器面临的问题 | 第33-35页 |
| 1.3 本论文结构安排及主要内容 | 第35-38页 |
| 第二章 单端推挽驱动载流子耗尽型调制器等效电路模型 | 第38-69页 |
| 2.1 差分调制器的介绍及其等效电路分析 | 第38-46页 |
| 2.2 单端推挽驱动硅基调制器的提出以及其等效电路模型的建立 | 第46-63页 |
| 2.2.1 单端推挽驱动硅基调制器的提出 | 第46-48页 |
| 2.2.2 等效电路模型的建立 | 第48-63页 |
| 2.3 等效电路模型正确性的验证 | 第63-68页 |
| 2.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第三章 单端推挽硅基载流子耗尽型MZI调制器的设计与实现 | 第69-100页 |
| 3.1 衡量MZI调制器性能的基本概念 | 第69-72页 |
| 3.2 调制器设计与优化 | 第72-83页 |
| 3.2.1 光学结构设计 | 第72-74页 |
| 3.2.2 电学结构设计 | 第74-83页 |
| 3.3 单端推挽驱动的硅基MZI调制器的测试 | 第83-99页 |
| 3.3.1 芯片制作 | 第83-86页 |
| 3.3.2 芯片测试平台 | 第86-87页 |
| 3.3.3 调制器直流测试 | 第87-89页 |
| 3.3.4 调制器小信号动态测试 | 第89-92页 |
| 3.3.5 调制器高速调制测试 | 第92-99页 |
| 3.4 本章小结 | 第99-100页 |
| 第四章 硅基调制器的线性度研究 | 第100-127页 |
| 4.1 硅基载流子耗尽型调制器线性度的研究 | 第100-114页 |
| 4.1.1 MZI调制器的线性度分析 | 第100-105页 |
| 4.1.2 单端推挽驱动硅基载流子耗尽型的线性度测试 | 第105-114页 |
| 4.2 基于IQ调制器的双平行调制器以提高调制器的线性度 | 第114-124页 |
| 4.2.1 工作原理的研究 | 第114-119页 |
| 4.2.2 开关性能测试与比较 | 第119-124页 |
| 4.3 硅基MZI调制器线性度的讨论 | 第124-125页 |
| 4.4 本章小结 | 第125-127页 |
| 第五章 总结与展望 | 第127-130页 |
| 5.1 研究总结 | 第127-128页 |
| 5.2 研究展望 | 第128-130页 |
| 参考文献 | 第130-140页 |
| 附录一 符号与标记 | 第140-142页 |
| 攻读博士学位期间已发表或录用的论文 | 第142-144页 |
| 攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第144-145页 |
| 致谢 | 第145-148页 |
