| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 传统激光测距技术 | 第10-14页 |
| 1.2.1 飞行时间法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 相位法 | 第12-13页 |
| 1.2.3 干涉法 | 第13-14页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第14-18页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3.3 国内外研究现状分析 | 第18页 |
| 1.4 本文的主要工作 | 第18-20页 |
| 第二章 基于二次偏振调制的变频测距技术原理 | 第20-30页 |
| 2.1 二次偏振调制技术 | 第20-25页 |
| 2.1.1 电光相位调制器 | 第20-23页 |
| 2.1.2 二次偏振调制技术的调制解调原理 | 第23-24页 |
| 2.1.3 二次偏振调制技术的优点 | 第24-25页 |
| 2.2 变频测距技术 | 第25-28页 |
| 2.2.1 基本原理 | 第26-27页 |
| 2.2.2 调制频率对测量精度的影响 | 第27-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 基于二次偏振调制的测距实验系统与实验结果 | 第30-41页 |
| 3.1 基于二次偏振调制的测距系统总体结构和主要器件 | 第30-34页 |
| 3.1.1 主要器件介绍 | 第30-32页 |
| 3.1.2 基于二次偏振调制的测距实验系统总体结构 | 第32-34页 |
| 3.2 基于二次偏振调制的测距实验系统 | 第34-37页 |
| 3.2.1 频率的测量 | 第34-36页 |
| 3.2.2 测试结果验证 | 第36-37页 |
| 3.3 基于二次偏振调制的测距系统测距能力测试 | 第37-40页 |
| 3.3.1 测量稳定性测试 | 第37-38页 |
| 3.3.2 测量准确性测试 | 第38页 |
| 3.3.3 测量范围能力测试 | 第38-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于二次偏振调制方法的变频测距系统嵌入式系统设计 | 第41-53页 |
| 4.1 嵌入式系统介绍 | 第41-42页 |
| 4.2 基于Zynq-7000的测距系统结构 | 第42-46页 |
| 4.2.1 Zynq-7000芯片的Zedboard开发板 | 第43-44页 |
| 4.2.2 HMC833模块 | 第44-46页 |
| 4.3 基于Zynq开发板的测距系统信号处理 | 第46-49页 |
| 4.3.1 摇摆法 | 第46-48页 |
| 4.3.2 线性拟合算法 | 第48-49页 |
| 4.4 系统测试 | 第49-52页 |
| 4.4.1 基于Zynq开发板的测距流程 | 第49-50页 |
| 4.4.2 测试结果分析 | 第50-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-56页 |
| 5.1 工作总结 | 第53-54页 |
| 5.2 展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
