摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
目录 | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第8-10页 |
1.1 微弧氧化技术的原理 | 第8页 |
1.2 微弧氧化技术的研究背景 | 第8页 |
1.3 微弧氧化技术的发展现状 | 第8-9页 |
1.4 本课题的研究意义 | 第9页 |
1.5 本课题研究的内容 | 第9-10页 |
第二章 系统总体结构设计 | 第10-16页 |
2.1 电源系统的技术指标 | 第10页 |
2.2 电源系统总体结构设计 | 第10-13页 |
2.3 主电路的设计 | 第13页 |
2.4 控制系统的结构设计 | 第13-14页 |
2.4.1 基于 TMS320F2812 的控制电路设计 | 第14页 |
2.4.2 基于 S3C2410 的人机交互接口电路设计 | 第14页 |
2.5 本章小结 | 第14-16页 |
第三章 系统的硬件设计 | 第16-30页 |
3.1 整流电路的设计 | 第16-21页 |
3.1.1 整流器件的选择 | 第16-18页 |
3.1.2 晶闸管的触发技术要求 | 第18页 |
3.1.3 晶闸管触发电路的设计 | 第18-20页 |
3.1.4 整流电路保护方案设计 | 第20-21页 |
3.2 IGBT 逆变电路的设计 | 第21-25页 |
3.2.1 IGBT 选型 | 第22页 |
3.2.2 IGBT 驱动器参数计算 | 第22-23页 |
3.2.3 IGBT 驱动电路的设计 | 第23-24页 |
3.2.4 IGBT 保护电路设计 | 第24-25页 |
3.3 基于 TMS320F2812 的控制电路硬件设计 | 第25-29页 |
3.3.1 电流检测电路 | 第25-26页 |
3.3.2 电压检测电路 | 第26页 |
3.3.3 温度检测电路 | 第26-27页 |
3.3.4 缓冲电路 | 第27-28页 |
3.3.5 DAC 电路 | 第28-29页 |
3.4 本章小结 | 第29-30页 |
第四章 控制系统软件设计 | 第30-41页 |
4.1 PWM 发生子程序 | 第30-31页 |
4.2 恒压/恒流状态切换子程序 | 第31-34页 |
4.2.1 恒压控制 | 第32-33页 |
4.2.2 恒流控制 | 第33-34页 |
4.3 软启动子程序 | 第34-35页 |
4.4 过流保护子程序 | 第35-36页 |
4.5 过压保护子程序 | 第36-37页 |
4.6 过热保护子程序 | 第37-38页 |
4.7 A/D 数据校正的子程序 | 第38-39页 |
4.8 串口通讯子程序 | 第39-40页 |
4.9 自恢复子程序 | 第40页 |
4.10 本章小结 | 第40-41页 |
第五章 监控系统的设计 | 第41-49页 |
5.1 S3C2410 的特性 | 第41页 |
5.2 监控系统总体结构 | 第41-42页 |
5.3 Linux 系统在 S3C2410 中的实现 | 第42-43页 |
5.3.1 Linux 操作系统特点 | 第42页 |
5.3.2 Linux 操作系统的移植 | 第42页 |
5.3.3 触摸屏显示界面的设计 | 第42-43页 |
5.3.4 Qt 图形应用程序设计 | 第43页 |
5.4 监控系统的数据输入界面设计 | 第43-44页 |
5.5 监控系统的数据查询界面设计 | 第44页 |
5.6 监控系统的故障监测报警界面设计 | 第44-45页 |
5.7 监控系统的状态切换/控制界面设计 | 第45页 |
5.8 S3C2410 与 TMS320F2812 的通信设计 | 第45-48页 |
5.9 本章小结 | 第48-49页 |
第六章 系统调试与结果分析 | 第49-56页 |
6.1 测试平台 | 第49页 |
6.2 测试仪器/附件 | 第49-50页 |
6.3 测试内容 | 第50-51页 |
6.3.1 波形测试 | 第50页 |
6.3.2 过压保护测试 | 第50页 |
6.3.3 过流保护测试 | 第50页 |
6.3.4 过热保护测试 | 第50页 |
6.3.5 软启动功能测试 | 第50页 |
6.3.6 其他功能测试 | 第50-51页 |
6.4 测试结果 | 第51-54页 |
6.5 结果分析 | 第54-56页 |
全文总结和展望 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
攻读硕士学位期间学术论文目录 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
附录 | 第61-67页 |
详细摘要 | 第67-71页 |