| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 注释表 | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 工程及研究背景 | 第12-15页 |
| 1.2 裂纹萌生机理 | 第15-16页 |
| 1.3 裂纹萌生模拟现状及常用方法 | 第16-21页 |
| 1.3.1 Tanaka – Mura模型 | 第17-18页 |
| 1.3.2 Sistaninia–Niffenegger Fatigue (SNF) 模型 | 第18-19页 |
| 1.3.3 Miller-Hobson模型 | 第19-20页 |
| 1.3.4 裂纹尖端位移模型 | 第20页 |
| 1.3.5 离散位错模型 | 第20页 |
| 1.3.6 基于分子动力学的模型 | 第20-21页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第21-22页 |
| 第二章 TC4-DT电子束焊接接头组织模拟 | 第22-37页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 TC4-DT电子束焊接接头熔池及组织特点 | 第22-24页 |
| 2.3 常用材料微观组织数值模拟方法 | 第24-27页 |
| 2.3.1 确定性方法 | 第25页 |
| 2.3.2 随机性方法 | 第25-27页 |
| 2.3.3 相场法 | 第27页 |
| 2.4 TC4-DT钛合金电子束焊接接头焊缝柱状晶组织模拟 | 第27-34页 |
| 2.4.1 基于元胞自动机法的晶粒生长模型 | 第28-31页 |
| 2.4.2 TC4-DT电子束焊接接头温度场数值模拟 | 第31-33页 |
| 2.4.3 TC4-DT电子束焊接接头焊缝组织模拟结果 | 第33-34页 |
| 2.5 TC4-DT钛合金电子束焊接接头等轴组织模拟 | 第34-36页 |
| 2.5.1 泰森多边形组织模拟方法 | 第34-35页 |
| 2.5.2 TC4-DT电子束焊接接头等轴晶组织模拟结果 | 第35-36页 |
| 2.6 小结 | 第36-37页 |
| 第三章 TC4-DT电子束焊接接头裂纹萌生模拟 | 第37-66页 |
| 3.1 引言 | 第37页 |
| 3.2 理论介绍 | 第37-43页 |
| 3.2.1 Tanaka-Mura裂纹萌生位错模型 | 第37-39页 |
| 3.2.2 局部坐标和整体坐标中弹性刚度矩阵的转换关系 | 第39-41页 |
| 3.2.3 滑移系分切应力、应变和宏观应力、应变之间的关系 | 第41-43页 |
| 3.3 基于Tanaka-Mura理论的裂纹萌生计算模型 | 第43-47页 |
| 3.4 TC4-DT电子束焊接接头焊缝区域裂纹萌生模拟 | 第47-53页 |
| 3.4.1 焊缝晶体有限元模型的建立 | 第47-50页 |
| 3.4.2 材料参数及应力分析 | 第50-51页 |
| 3.4.3 萌生微裂纹结果 | 第51-53页 |
| 3.5 TC4-DT电子束焊接接头母材区裂纹萌生模拟 | 第53-61页 |
| 3.5.1 母材区晶体有限元模型的建立 | 第53页 |
| 3.5.2 材料参数及应力分析 | 第53-54页 |
| 3.5.3 萌生微裂纹结果 | 第54-61页 |
| 3.6 TC4-DT电子束焊接接头靠近母材处热影响区裂纹萌生模拟 | 第61-65页 |
| 3.7 小结 | 第65-66页 |
| 第四章电子束焊接接头原位疲劳试验及Tanaka模型验证 | 第66-74页 |
| 4.1 引言 | 第66页 |
| 4.2 TC4-DT钛合金电子束焊接接头原位疲劳试验 | 第66-71页 |
| 4.2.1 试验准备 | 第66-68页 |
| 4.2.2 等截面试件试验结果 | 第68-70页 |
| 4.2.3 变截面试件试验结果 | 第70-71页 |
| 4.3 Tanaka模型验证 | 第71-73页 |
| 4.4 小结 | 第73-74页 |
| 第五章结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 在学期间的研究成果及发表的论文 | 第80页 |
