摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第16-22页 |
第二章 后选择下的量子测量的基本理论 | 第22-32页 |
2.1 理想测量的von Neumann测量模型 | 第22-23页 |
2.2 量子双态矢量理论 | 第23-24页 |
2.3 弱测量和弱值的标准理论 | 第24-25页 |
2.4 弱值与测量强度——严格理论 | 第25-30页 |
2.4.1 重新定义弱值的平庸分母 | 第25-26页 |
2.4.2 非微扰的理论框架 | 第26-27页 |
2.4.3 后选择下的“强测量”测弱值 | 第27-29页 |
2.4.4 严格测量A_w的间接办法 | 第29-30页 |
2.5 备注与讨论 | 第30-32页 |
第三章 弱测量和弱值理论的实验应用 | 第32-54页 |
3.1 弱值与几何相 | 第32-33页 |
3.2 弱值与波姆力学 | 第33-34页 |
3.3 弱值与量子测量的误差-干扰关系 | 第34-35页 |
3.4 弱值与量子态层析 | 第35-39页 |
3.4.1 量子态层析的标准方法 | 第35-37页 |
3.4.2 以弱值为基础的态层析 | 第37-39页 |
3.4.3 弱测量方法测弱值的不足 | 第39页 |
3.5 基于严格理论的弱值量子态层析 | 第39-44页 |
3.5.1 量子态层析中最优的测量强度 | 第41-44页 |
3.6 其他例子 | 第44-47页 |
3.7 弱值与量子过程层析 | 第47-54页 |
3.7.1 量子过程层析的标准方法 | 第47-48页 |
3.7.2 更具直接性的量子过程层析方案 | 第48-49页 |
3.7.3 用后选择下的连续von Neumann测量进行量子过程层析 | 第49-54页 |
第四章 量子测量的误差-干扰互补关系 | 第54-76页 |
4.1 Ozawa的测量干扰关系(MDR) | 第54-57页 |
4.1.1 ε(A)和η(B)的物理意义 | 第55-57页 |
4.1.2 MDR的实验验证 | 第57页 |
4.2 Busch-Lahti-Werner测量不确定关系 | 第57-59页 |
4.3 Buscemi-Hall-Ozawa-Wilde测量噪声干扰关系 | 第59-61页 |
4.4 态相关的测量误差-干扰关系 | 第61-74页 |
4.4.1 误差和干扰的定义 | 第62-63页 |
4.4.2 误差-干扰关系与量子不确定性关系 | 第63-65页 |
4.4.3 量化互补性存在时的误差-干扰关系 | 第65-71页 |
4.4.4 理论的实验验证 | 第71-73页 |
4.4.5 向混态的拓展和其他讨论 | 第73-74页 |
4.5 小结 | 第74-76页 |
第五章 光-机械振子系统中的自冷却 | 第76-106页 |
5.1 光-机械振子系统的简单模型 | 第77-82页 |
5.1.1 量子Langevin方程和input-output方法 | 第78-80页 |
5.1.2 另一种表述 | 第80-81页 |
5.1.3 线性化 | 第81-82页 |
5.2 色散耦合系统中的边带冷却 | 第82-86页 |
5.2.1 基于量子噪声的近似解 | 第82-84页 |
5.2.2 边带 | 第84-85页 |
5.2.3 光致弹性和阻尼 | 第85-86页 |
5.2.4 突破边带条件:optomechanically induced transparency | 第86页 |
5.3 耗散耦合的光-机械振子系统 | 第86-89页 |
5.4 突破边带条件:耗散振子助力色散振子的基态冷却 | 第89-103页 |
5.4.1 理论模型和基本方程 | 第90-91页 |
5.4.2 腔模光子数噪声谱的计算 | 第91-93页 |
5.4.3 S_(nn)[ω]的形状 | 第93-94页 |
5.4.4 准基态冷却:在ω_0=ω_1的极限附近 | 第94-96页 |
5.4.5 准基态冷却:略偏离谱峰的情形 | 第96-97页 |
5.4.6 确定系统参数 | 第97-100页 |
5.4.7 准基态冷却:严格求解 | 第100-103页 |
5.4.8 g_1α_s和最佳失谐之间的反相关关系 | 第103页 |
5.5 小结和讨论 | 第103-106页 |
第六章 总结与展望 | 第106-108页 |
参考文献 | 第108-116页 |
致谢 | 第116-120页 |
在读期间发表的学术论文 | 第120页 |