| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 课题研究的国内外发展现状及分析 | 第11-16页 |
| 1.3 ZnO的基本性质 | 第16-17页 |
| 1.4 生长ZnO衬底材料的分类及选择 | 第17-19页 |
| 1.4.1 衬底材料的分类 | 第17-19页 |
| 1.4.2 衬底材料的选择 | 第19页 |
| 1.5 论文研究的主要研究内容 | 第19-21页 |
| 1.5.1 玉米醇溶蛋白膜的制备及特性研究 | 第19-20页 |
| 1.5.2 基于玉米醇溶蛋白膜低温下ZnO的可控性生长及特性研究 | 第20-21页 |
| 1.6 创新点 | 第21-22页 |
| 第二章 实验材料与设备 | 第22-26页 |
| 2.1 制备玉米醇溶蛋白膜的材料及实验设备 | 第22-24页 |
| 2.1.1 制备玉米醇溶蛋白膜的原料及试剂 | 第22页 |
| 2.1.2 制备玉米醇溶蛋白膜及分析的实验设备 | 第22-24页 |
| 2.2 基于玉米醇溶蛋白膜低温下ZnO生长的实验及表征的设备 | 第24-25页 |
| 2.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 玉米醇溶蛋白膜的制备与表征 | 第26-41页 |
| 3.1 制备玉米醇溶蛋白膜的实验方案 | 第26-29页 |
| 3.1.1 乙醇浓度的选择实验 | 第26页 |
| 3.1.2 水浴捏合温度的选择实验 | 第26-27页 |
| 3.1.3 乙醇溶液添加量的选择实验 | 第27页 |
| 3.1.4 增塑剂的选择及用量试验 | 第27-28页 |
| 3.1.5 成膜介质选择实验 | 第28-29页 |
| 3.2 玉米醇溶蛋白膜各项性能测试实验 | 第29-31页 |
| 3.2.1 玉米醇溶蛋白膜机械性能测试 | 第29-30页 |
| 3.2.2 玉米醇溶蛋白膜水溶性的测定 | 第30页 |
| 3.2.3 玉米醇溶蛋白膜透光率的测定 | 第30页 |
| 3.2.4 玉米醇溶蛋白膜玻璃态转移点测试实验 | 第30页 |
| 3.2.5 扫描电子显微镜(SEM)观察 | 第30-31页 |
| 3.3 不同因素对玉米醇溶蛋白膜性能的影响 | 第31-39页 |
| 3.3.1 乙醇浓度对玉米醇溶蛋白膜性能的影响 | 第31-32页 |
| 3.3.2 水浴捏合温度对玉米醇溶蛋白膜性能的影响 | 第32-33页 |
| 3.3.3 乙醇溶液的添加量对玉米醇溶蛋白膜性能的影响 | 第33-34页 |
| 3.3.4 增塑剂的添加量对玉米醇溶蛋白膜性能的影响 | 第34-37页 |
| 3.3.5 衬底材料对玉米醇溶蛋白膜成膜的影响 | 第37页 |
| 3.3.6 玉米醇溶蛋白膜玻璃态转移点测试实验结果分析 | 第37-38页 |
| 3.3.7 扫描电子显微镜(SEM)观察 | 第38-39页 |
| 3.4 玉米醇溶蛋白膜照片 | 第39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 基于玉米醇溶蛋白膜低温下ZnO生长的性能测试与结果分析 | 第41-54页 |
| 4.1 玉米醇溶蛋白膜低温下ZnO可控性生长的实验方案 | 第41-42页 |
| 4.1.1 射频磁控溅射的使用方法 | 第41页 |
| 4.1.2 低温生长ZnO的具体实验安排 | 第41-42页 |
| 4.2 玉米醇溶蛋白膜生长ZnO薄膜的各项性能测试 | 第42-44页 |
| 4.2.1 利用扫描电镜（SEM）观察膜的表面及截面面形貌 | 第42页 |
| 4.2.2 利用原子力显微镜（AFM）观察薄膜的表面形貌 | 第42-43页 |
| 4.2.3 X射线衍射仪（XRD）分析薄膜的结构特性 | 第43页 |
| 4.2.4 光谱仪（PL）分析薄膜的光致发光机制 | 第43-44页 |
| 4.2.5 能谱仪（EDS）分析薄膜的成分 | 第44页 |
| 4.3 不同氩氧比条件下溅射生长ZnO的测试结果分析 | 第44-47页 |
| 4.3.1 扫描电镜（SEM）的观察结果 | 第44页 |
| 4.3.2 原子力显微镜（AFM）的观察结果 | 第44-46页 |
| 4.3.3 X射线衍射仪（XRD）的分析结果 | 第46-47页 |
| 4.3.4 光谱仪（PL）的分析结果 | 第47页 |
| 4.4 不同溅射功率下生长ZnO的测试结果分析 | 第47-51页 |
| 4.4.1 扫描电镜（SEM）的观察结果 | 第47-48页 |
| 4.4.2 原子力显微镜（AFM）的观察结果 | 第48-49页 |
| 4.4.3 X射线衍射仪（XRD）的分析结果 | 第49-50页 |
| 4.4.4 光谱仪（PL）的分析结果 | 第50-51页 |
| 4.5 能谱仪（EDS）对薄膜的成分的分析结果 | 第51-53页 |
| 4.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 5.1 总结 | 第54-55页 |
| 5.2 展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
