基于FPGA的微控制器芯核软错误敏感性评估方法研究
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 引言 | 第15-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第15-18页 |
| 1.1.1 微控制器的发展与应用 | 第15-16页 |
| 1.1.2 影响微控制器可靠性的因素 | 第16-17页 |
| 1.1.3 研究目的及意义 | 第17-18页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第19页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 故障注入与FPGA基础知识介绍 | 第21-32页 |
| 2.1 故障注入的定义及分类 | 第21-22页 |
| 2.2 故障注入的实现方法 | 第22-24页 |
| 2.2.1 基于物理的实现方法 | 第22-23页 |
| 2.2.2 基于仿真的实现方法 | 第23页 |
| 2.2.3 基于FPGA的实现方法 | 第23-24页 |
| 2.3 FPGA基础知识 | 第24-32页 |
| 2.3.1 FPGA的发展历程 | 第24-25页 |
| 2.3.2 FPGA的内部结构 | 第25-28页 |
| 2.3.3 开发语言 | 第28-29页 |
| 2.3.4 开发环境及流程 | 第29-32页 |
| 第三章 PIC16F54微控制器的设计 | 第32-49页 |
| 3.1 PIC16F54总体结构与模块划分 | 第32-34页 |
| 3.1.1 总体结构 | 第32-33页 |
| 3.1.2 模块划分 | 第33-34页 |
| 3.2 算术逻辑运算单元设计 | 第34-37页 |
| 3.2.1 Adder8模块设计 | 第34-35页 |
| 3.2.2 Logic8模块设计 | 第35页 |
| 3.2.3 Shift8模块设计 | 第35-36页 |
| 3.2.4 Throu8模块设计 | 第36页 |
| 3.2.5 ALU模块设计及验证 | 第36-37页 |
| 3.3 译码单元的设计与验证 | 第37-40页 |
| 3.3.1 指令集综述 | 第37-38页 |
| 3.3.2 译码单元设计 | 第38-39页 |
| 3.3.3 译码单元验证 | 第39-40页 |
| 3.4 其他模块设计 | 第40-44页 |
| 3.4.1 寄存器组设计 | 第40-42页 |
| 3.4.2 取指单元设计 | 第42-44页 |
| 3.5 顶层模块设计及验证 | 第44-49页 |
| 3.5.1 PIC16F54模块设计 | 第44-45页 |
| 3.5.2 PIC16F54模块仿真验证 | 第45-47页 |
| 3.5.3 PIC16F54模块的版级验证 | 第47-49页 |
| 第四章 故障注入与分析平台 | 第49-60页 |
| 4.1 相关介绍 | 第49-50页 |
| 4.1.1 故障注入点 | 第49页 |
| 4.1.2 故障模型 | 第49-50页 |
| 4.1.3 效果分类 | 第50页 |
| 4.2 故障注入与分析平台 | 第50-54页 |
| 4.2.1 故障管理器 | 第51-52页 |
| 4.2.2 故障列表 | 第52-53页 |
| 4.2.3 故障与无故障处理器 | 第53页 |
| 4.2.4 MicroBlaze软核 | 第53-54页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第54-60页 |
| 4.3.1 实验环境及步骤 | 第54页 |
| 4.3.2 实验结果 | 第54-56页 |
| 4.3.3 敏感单元加固 | 第56-57页 |
| 4.3.4 故障注入时间分析 | 第57-58页 |
| 4.3.5 资源开销分析 | 第58-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 本文总结 | 第60页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 附录1 | 第65-67页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第67页 |
