约瑟夫森结(阵)测试系统研究
摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-6页 |
第一章 引言 | 第6-14页 |
·计量基准简介 | 第6-7页 |
·超导体简介 | 第7-14页 |
·超导现象的解释 | 第8-11页 |
·新型超导电子器件 | 第11页 |
·本文主要研究内容介绍 | 第11-14页 |
第二章 约瑟夫森量子电压基准 | 第14-18页 |
·约瑟夫森结的结构 | 第14-15页 |
·约瑟夫森效应 | 第15-18页 |
·直流约瑟夫森效应 | 第15页 |
·交流约瑟夫森效应 | 第15-16页 |
·交流约瑟夫森电压计量 | 第16-18页 |
第三章 约瑟夫森结阵测试系统介绍 | 第18-20页 |
·低温环境的获取 | 第18页 |
·测试仪器以及软硬件设施 | 第18-19页 |
·小结 | 第19-20页 |
第四章 约瑟夫森结阵测试系统机械硬件设计 | 第20-36页 |
·用于极低温测量的多芯探测杆设计 | 第21-27页 |
·样品杆设计的理论支持 | 第22页 |
·薄壁无磁不锈钢管和康铜线的传热速率 | 第22-24页 |
·液氦日蒸发量的计算 | 第24页 |
·样品杆的外部设计 | 第24页 |
·底端套筒的设计 | 第24页 |
·底端套筒连接计 | 第24-25页 |
·卡盘及其固定件 | 第25页 |
·密封盒 | 第25-26页 |
·样品托的设计 | 第26页 |
·微波电路板的设计与多芯连接器的使用 | 第26-27页 |
·顶端连接盒和内部结构的改进 | 第27-28页 |
·低温Socket测试座设计 | 第28-32页 |
·测试座介绍 | 第29-30页 |
·测试座结构 | 第30-31页 |
·测试座散热和测试结果 | 第31-32页 |
·系统中PCB电路板设计 | 第32-36页 |
第五章 测试系统Labview程序设计 | 第36-46页 |
·IV Sweep和EZ Sweep应用 | 第36-40页 |
·无微波信号输入条件下监测程序 | 第40-42页 |
·有微波信号输入条件下监测群序 | 第42-46页 |
第六章 测试系统数据分析 | 第46-50页 |
·Socket测试座金属弹簧顶针接触电阻测量 | 第46-47页 |
·2JJs和200JJs Ⅰ-Ⅴ曲线测量 | 第47-50页 |
第七章 结论 | 第50-52页 |
参考文献 | 第52-56页 |
攻读学位期间的研究成果 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-60页 |