| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题研究背景 | 第10-12页 |
| ·低功耗技术的必要性 | 第10-11页 |
| ·集成电路功耗构成 | 第11页 |
| ·功耗估计技术发展现状 | 第11-12页 |
| ·本文的研究目的和意义 | 第12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 深亚微米集成电路漏电流功耗的形成机制与建模方法研究 | 第14-29页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·深亚微米集成电路漏电流主要产生机制及模型 | 第14-21页 |
| ·亚阈值电流(I_(SUB)) | 第15-17页 |
| ·栅极隧穿电流(I_(GATE)) | 第17-19页 |
| ·PN结反偏隧穿电流(I_(BTBT)) | 第19-21页 |
| ·漏电流功耗建模研究 | 第21-24页 |
| ·影响漏电流功耗的主要因素 | 第24-28页 |
| ·温度对于漏电流的影响 | 第25页 |
| ·衬底偏置对于漏电流的影响 | 第25-26页 |
| ·堆栈效应简介 | 第26-27页 |
| ·数字电路漏电流功耗与原始输入的关系 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 寄存器传输级(RTL)数字电路平均漏电流功耗估计技术研究 | 第29-39页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·数字集成电路漏电流功耗估计技术研究 | 第29-32页 |
| ·漏电流功耗估计的层次 | 第29-31页 |
| ·功耗的动态估计方法与静态估计方法 | 第31页 |
| ·漏电流功耗极值估计与平均漏电流功耗估计 | 第31-32页 |
| ·寄存器传输级(RTL)平均漏电流功耗估计宏模型法 | 第32-38页 |
| ·功耗宏模型法基本思想 | 第32页 |
| ·功耗宏模型法基本步骤 | 第32-33页 |
| ·传统宏模型法存在的问题 | 第33页 |
| ·RTL平均漏电流功耗估计宏模型法 | 第33-34页 |
| ·基本假设 | 第34-35页 |
| ·描述(characterization)步骤 | 第35-36页 |
| ·估计(estimation)步骤 | 第36-37页 |
| ·RTL平均漏电流功耗估计宏模型法的特点 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 实验结果与估计方法改进 | 第39-53页 |
| ·实验与实验结果分析 | 第39-45页 |
| ·实验平台以及流程 | 第39-40页 |
| ·实验结果及分析 | 第40-43页 |
| ·误差来源分析 | 第43-45页 |
| ·使用数据拟合技术改进RTL平均漏电流功耗估计宏模型法 | 第45-52页 |
| ·数据拟合与线性回归基本思想 | 第45-46页 |
| ·使用线性回归方程改进RTL平均漏电流功耗估计宏模型法 | 第46-47页 |
| ·实验结果分析 | 第47-49页 |
| ·线性回归方程修正的RTL平均漏电流功耗估计方法的实际应用 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 结束语 | 第53-55页 |
| ·本文工作总结 | 第53页 |
| ·本文的创新性 | 第53页 |
| ·工作展望 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 作者在攻读硕士学位期间完成的主要论文 | 第58页 |
