中空纤维担载MCM-48介孔氧化硅膜的制备与结构研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 1 绪论 | 第10-19页 |
| ·介孔材料的研究现状 | 第10-15页 |
| ·介孔材料及其分类 | 第10页 |
| ·有序介孔材料的合成方法 | 第10-11页 |
| ·有序介孔材料的合成机理 | 第11-12页 |
| ·有序介孔氧化硅材料的研究进展 | 第12-13页 |
| ·MCM-48材料 | 第13-15页 |
| ·介孔氧化硅薄膜材料的研究现状 | 第15-17页 |
| ·致密载体担载介孔膜研究进展 | 第15-16页 |
| ·多孔载体担载介孔膜研究进展 | 第16页 |
| ·MCM-48介孔氧化硅膜的研究进展 | 第16-17页 |
| ·本文选题意义 | 第17-18页 |
| ·本文研究内容 | 第18-19页 |
| 2 MCM-48介孔氧化硅的合成与表征 | 第19-31页 |
| ·实验室试剂及实验设备 | 第19页 |
| ·实验试剂 | 第19页 |
| ·实验设备 | 第19页 |
| ·实验方法 | 第19-20页 |
| ·起始凝胶的制备 | 第19-20页 |
| ·晶化 | 第20页 |
| ·焙烧 | 第20页 |
| ·样品的表征 | 第20-21页 |
| ·晶体结构(XRD)分析 | 第20页 |
| ·微观形貌(SEM、HRTEM)分析 | 第20页 |
| ·粒径分布测试 | 第20页 |
| ·热重差热(TG-DTA)分析 | 第20-21页 |
| ·红外光谱(FT-IR)分析 | 第21页 |
| ·孔径分布(BET)测定 | 第21页 |
| ·结果与讨论 | 第21-30页 |
| ·晶种的选定 | 第21-24页 |
| ·晶体结构(XRD)分析 | 第21-22页 |
| ·微观形貌(SEM)分析 | 第22-23页 |
| ·粒径分布测试 | 第23-24页 |
| ·晶种的表征 | 第24-30页 |
| ·热重差热(TG-DTA)分析 | 第24-25页 |
| ·红外光谱(FT-IR)分析 | 第25-26页 |
| ·晶体结构(XRD)分析 | 第26-27页 |
| ·微观形貌(SEM、HRTEM)分析 | 第27-28页 |
| ·孔径分布(BET)测定 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 3 MCM-48介孔氧化硅担载膜的合成与表征 | 第31-47页 |
| ·实验室试剂及实验设备 | 第31-32页 |
| ·实验试剂 | 第31页 |
| ·实验设备 | 第31-32页 |
| ·实验方法 | 第32-34页 |
| ·载体的初步预处理 | 第32页 |
| ·MCM-48介孔氧化硅膜的制备 | 第32-34页 |
| ·起始凝胶的制备 | 第32页 |
| ·膜的原位水热合成 | 第32页 |
| ·二次生长法制备MCM-48介孔氧化硅膜 | 第32-34页 |
| ·样品的表征 | 第34-37页 |
| ·晶体结构(XRD)分析 | 第34页 |
| ·微观形貌(SEM)分析 | 第34页 |
| ·能谱(EDS)分析 | 第34-35页 |
| ·气体渗透测试 | 第35-37页 |
| ·结果与讨论 | 第37-46页 |
| ·晶体结构(XRD)分析 | 第37页 |
| ·介孔氧化硅膜的微观形貌(SEM)分析 | 第37-40页 |
| ·能谱(EDS)分析 | 第40-42页 |
| ·介孔氧化硅膜的气体渗透及分离性能分析 | 第42-46页 |
| ·介孔氧化硅膜的气体渗透性能分析 | 第42-45页 |
| ·介孔氧化硅担载膜的气体分离性能分析 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 4 结论 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-54页 |
