GaAs材料光电压谱特性分析
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
1 绪论 | 第7-12页 |
·GaAs光电阴极的发展及应用 | 第7-9页 |
·GaAsNEA光电阴极国内外研究现状 | 第9页 |
·表面光电压及其测试技术简介 | 第9-10页 |
·本文的主要工作 | 第10-12页 |
2 GaAs光电压谱及扩散长度理论研究 | 第12-21页 |
·GaAs光电阴极的结构及性能参数 | 第12-14页 |
·GaAs光电阴极的结构 | 第12-13页 |
·GaAs光电阴极的性能参数 | 第13-14页 |
·表面光电压测试技术 | 第14-17页 |
·表面光电压的产生 | 第14-16页 |
·表面光电压谱的测试原理 | 第16-17页 |
·表面光电压法测试 GaAs的扩散长度 | 第17-21页 |
3 光电压谱测试系统研制 | 第21-51页 |
·光电压谱测试系统简介 | 第21页 |
·光电压谱测试系统硬件结构 | 第21-29页 |
·光源 | 第21-23页 |
·斩光器 | 第23页 |
·光栅单色仪及光纤 | 第23-25页 |
·光电压池的设计 | 第25-26页 |
·锁定放大器 | 第26-29页 |
·光电压谱测试系统软件设计 | 第29-51页 |
·软件开发工具介绍 | 第29-31页 |
·软件界面介绍 | 第31-42页 |
·串口通信 | 第42-47页 |
·光栅单色仪和锁定放大器的控制 | 第47-51页 |
4 实验及数据分析 | 第51-56页 |
·实验 | 第51-53页 |
·实验步骤 | 第51页 |
·实验结果 | 第51-53页 |
·扩散长度计算 | 第53-56页 |
5 结束语 | 第56-57页 |
·本论文的工作总结 | 第56页 |
·有待进一步进行的工作 | 第56-57页 |
致谢 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-60页 |