摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第23-47页 |
1.1 粒子物理学 | 第23-29页 |
1.1.1 基本粒子 | 第24页 |
1.1.2 四种相互作用力 | 第24页 |
1.1.3 弱电统一理论 | 第24-26页 |
1.1.4 量子色动力学 | 第26-27页 |
1.1.5 强子结构的夸克模型 | 第27-29页 |
1.2 夸克偶素 | 第29-32页 |
1.2.1 粲偶素能谱 | 第30-31页 |
1.2.2 粲偶素的衰变 | 第31-32页 |
1.3 奇特强子态 | 第32-33页 |
1.4 类粲夸克偶素 | 第33-42页 |
1.4.1 X粒子的研究现状 | 第34-36页 |
1.4.2 Y粒子的研究现状 | 第36-40页 |
1.4.3 Z粒子的研究现状 | 第40-42页 |
1.5 论文的选题和结构 | 第42-44页 |
1.5.1 e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面测量及分波分析的意义 | 第42页 |
1.5.2 论文结构 | 第42-44页 |
参考文献 | 第44-47页 |
第2章 实验装置 | 第47-69页 |
2.1 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第49页 |
2.2 北京谱仪(BESⅢ) | 第49-57页 |
2.2.1 束流管 | 第52页 |
2.2.2 主漂移室MDC | 第52-53页 |
2.2.3 飞行时间计数器TOF | 第53-54页 |
2.2.4 电磁量能器EMC | 第54-55页 |
2.2.5 超导磁铁 | 第55页 |
2.2.6 μ子探测器MUC | 第55页 |
2.2.7 触发系统 | 第55-56页 |
2.2.8 数据获取系统DAQ | 第56页 |
2.2.9 控制系统 | 第56-57页 |
2.3 离线软件系统 | 第57-60页 |
2.3.1 模拟系统 | 第57-59页 |
2.3.2 刻度系统 | 第59页 |
2.3.3 重建系统 | 第59-60页 |
2.3.4 分析工具 | 第60页 |
2.4 中性径迹飞行时间重建算法 | 第60-67页 |
2.4.1 重建框架 | 第61-64页 |
2.4.2 控制样本研究 | 第64-65页 |
2.4.3 飞行时间重建效率 | 第65-67页 |
2.5 本章小节 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-69页 |
第3章 e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面测量 | 第69-89页 |
3.1 软件框架和实验数据 | 第69-71页 |
3.1.1 数据点亮度和能量 | 第69页 |
3.1.2 MC模拟样本 | 第69-71页 |
3.2 事例挑选条件 | 第71-73页 |
3.2.1 初选条件 | 第71-72页 |
3.2.2 终选条件 | 第72-73页 |
3.3 本底分析 | 第73-74页 |
3.4 截面测量 | 第74-79页 |
3.4.1 信号提取 | 第74页 |
3.4.2 探测效率 | 第74-75页 |
3.4.3 截面计算 | 第75-79页 |
3.5 拟合e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面谱形 | 第79-81页 |
3.5.1 考虑三个BreitWigner函数相干求和 | 第79页 |
3.5.2 指数函数与两个BreitWigner函数相干求和 | 第79-81页 |
3.6 系统误差 | 第81-86页 |
3.6.1 e~+e~-→π~0π~0J/ψ面测量的系统误差 | 第81-85页 |
3.6.2 共振结构参数的系统误差 | 第85-86页 |
3.7 本章小节 | 第86-87页 |
参考文献 | 第87-89页 |
第4章 e~+e~-→π~0π~0J/ψ分波分析及Z_c~0(3900)自旋宇称的测量 | 第89-110页 |
4.1 实验数据样本 | 第89页 |
4.2 分波分析方法 | 第89-95页 |
4.2.1 振幅构造 | 第91-92页 |
4.2.2 Breit-Wigner函数 | 第92-94页 |
4.2.3 拟合方法 | 第94-95页 |
4.3 分波分析结果讨论 | 第95-101页 |
4.3.1 Z_c~0(3900)为J~P=1~+态的PWA | 第95-97页 |
4.3.2 Z_c~0(3900)自旋宇称为其它值的讨论 | 第97-100页 |
4.3.3 Z_c~0自旋宇称为J~P=1~+的显著性 | 第100-101页 |
4.3.4 提取e~+e~-→π~0Z_c~0(3900)→π~0π~0J/ψ分支比 | 第101页 |
4.4 分波分析的系统误差 | 第101-106页 |
4.4.1 事例选择相关 | 第101-103页 |
4.4.2 振幅参数化 | 第103-104页 |
4.4.3 质量分辨 | 第104-106页 |
4.5 输入输出检查 | 第106-107页 |
4.6 本章小结 | 第107-109页 |
参考文献 | 第109-110页 |
第5章 总结和展望 | 第110-113页 |
5.1 BESⅢ实验上e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面测量 | 第110-112页 |
5.2 Z_c~0(3900)自旋宇称的测量 | 第112-113页 |
附录A 重建中性径迹飞行时间算法补充材料 | 第113-117页 |
A.1 控制样本事例选择条件 | 第113-114页 |
A.2 反中子在探测器中行为研究 | 第114-117页 |
附录B 分波分析补充材料 | 第117-125页 |
B.1 四个能量点分别分波拟合 | 第117页 |
B.2 不同Z_c~0(3900)参数化情况下拟合分支比 | 第117-118页 |
B.3 与带电过程比较 | 第118-119页 |
B.4 其他点单独分波分析拟合结果 | 第119-125页 |
附录C 单卡比玻压低过程Λ_c~+→pη(π~0)的寻找和分支比测量 | 第125-144页 |
C.1 实验方法 | 第126页 |
C.2 软件框架和事例样本 | 第126页 |
C.3 事例挑选条件 | 第126-130页 |
C.3.1 初始事例挑选 | 第127-129页 |
C.3.2 Λ_c~+号选择 | 第129-130页 |
C.3.3 △E号区间 | 第130页 |
C.4 本底分析 | 第130-133页 |
C.4.1 衰变道Λ_c~+-→pη(π~0),η(π~0)→γγ | 第130-132页 |
C.4.2 Λ_c~+→pη(π~+π~-π~0)衰变过程 | 第132-133页 |
C.5 信号提取和分支比计算 | 第133-136页 |
C.5.1 Λ_c~+→pη分支比 | 第133-134页 |
C.5.2 Λ_c~+→pπ~0衰变分支比上限 | 第134-136页 |
C.6 系统误差 | 第136-141页 |
C.6.1 单个过程系统误差 | 第136-139页 |
C.6.2 Λ_c~+→pη衰变过程同时拟合的系统误差 | 第139-141页 |
C.6.3 Λ_c~+→pπ~0支比上限的系统误差 | 第141页 |
C.7 输入输出检查 | 第141-143页 |
C.7.1 Λ_c~+→pη程输入输出检查 | 第142页 |
C.7.2 Λ_c~+→pπ~0程输入输出检查 | 第142-143页 |
C.8 本章小结 | 第143-144页 |
参考文献 | 第144-146页 |
致谢 | 第146-148页 |
在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第148页 |