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北京谱仪Ⅲ上e~+e~-→π~0π~0J/ψ过程的截面测量和分波分析

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第23-47页
    1.1 粒子物理学第23-29页
        1.1.1 基本粒子第24页
        1.1.2 四种相互作用力第24页
        1.1.3 弱电统一理论第24-26页
        1.1.4 量子色动力学第26-27页
        1.1.5 强子结构的夸克模型第27-29页
    1.2 夸克偶素第29-32页
        1.2.1 粲偶素能谱第30-31页
        1.2.2 粲偶素的衰变第31-32页
    1.3 奇特强子态第32-33页
    1.4 类粲夸克偶素第33-42页
        1.4.1 X粒子的研究现状第34-36页
        1.4.2 Y粒子的研究现状第36-40页
        1.4.3 Z粒子的研究现状第40-42页
    1.5 论文的选题和结构第42-44页
        1.5.1 e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面测量及分波分析的意义第42页
        1.5.2 论文结构第42-44页
    参考文献第44-47页
第2章 实验装置第47-69页
    2.1 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)第49页
    2.2 北京谱仪(BESⅢ)第49-57页
        2.2.1 束流管第52页
        2.2.2 主漂移室MDC第52-53页
        2.2.3 飞行时间计数器TOF第53-54页
        2.2.4 电磁量能器EMC第54-55页
        2.2.5 超导磁铁第55页
        2.2.6 μ子探测器MUC第55页
        2.2.7 触发系统第55-56页
        2.2.8 数据获取系统DAQ第56页
        2.2.9 控制系统第56-57页
    2.3 离线软件系统第57-60页
        2.3.1 模拟系统第57-59页
        2.3.2 刻度系统第59页
        2.3.3 重建系统第59-60页
        2.3.4 分析工具第60页
    2.4 中性径迹飞行时间重建算法第60-67页
        2.4.1 重建框架第61-64页
        2.4.2 控制样本研究第64-65页
        2.4.3 飞行时间重建效率第65-67页
    2.5 本章小节第67-68页
    参考文献第68-69页
第3章 e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面测量第69-89页
    3.1 软件框架和实验数据第69-71页
        3.1.1 数据点亮度和能量第69页
        3.1.2 MC模拟样本第69-71页
    3.2 事例挑选条件第71-73页
        3.2.1 初选条件第71-72页
        3.2.2 终选条件第72-73页
    3.3 本底分析第73-74页
    3.4 截面测量第74-79页
        3.4.1 信号提取第74页
        3.4.2 探测效率第74-75页
        3.4.3 截面计算第75-79页
    3.5 拟合e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面谱形第79-81页
        3.5.1 考虑三个BreitWigner函数相干求和第79页
        3.5.2 指数函数与两个BreitWigner函数相干求和第79-81页
    3.6 系统误差第81-86页
        3.6.1 e~+e~-→π~0π~0J/ψ面测量的系统误差第81-85页
        3.6.2 共振结构参数的系统误差第85-86页
    3.7 本章小节第86-87页
    参考文献第87-89页
第4章 e~+e~-→π~0π~0J/ψ分波分析及Z_c~0(3900)自旋宇称的测量第89-110页
    4.1 实验数据样本第89页
    4.2 分波分析方法第89-95页
        4.2.1 振幅构造第91-92页
        4.2.2 Breit-Wigner函数第92-94页
        4.2.3 拟合方法第94-95页
    4.3 分波分析结果讨论第95-101页
        4.3.1 Z_c~0(3900)为J~P=1~+态的PWA第95-97页
        4.3.2 Z_c~0(3900)自旋宇称为其它值的讨论第97-100页
        4.3.3 Z_c~0自旋宇称为J~P=1~+的显著性第100-101页
        4.3.4 提取e~+e~-→π~0Z_c~0(3900)→π~0π~0J/ψ分支比第101页
    4.4 分波分析的系统误差第101-106页
        4.4.1 事例选择相关第101-103页
        4.4.2 振幅参数化第103-104页
        4.4.3 质量分辨第104-106页
    4.5 输入输出检查第106-107页
    4.6 本章小结第107-109页
    参考文献第109-110页
第5章 总结和展望第110-113页
    5.1 BESⅢ实验上e~+e~-→π~0π~0J/ψ截面测量第110-112页
    5.2 Z_c~0(3900)自旋宇称的测量第112-113页
附录A 重建中性径迹飞行时间算法补充材料第113-117页
    A.1 控制样本事例选择条件第113-114页
    A.2 反中子在探测器中行为研究第114-117页
附录B 分波分析补充材料第117-125页
    B.1 四个能量点分别分波拟合第117页
    B.2 不同Z_c~0(3900)参数化情况下拟合分支比第117-118页
    B.3 与带电过程比较第118-119页
    B.4 其他点单独分波分析拟合结果第119-125页
附录C 单卡比玻压低过程Λ_c~+→pη(π~0)的寻找和分支比测量第125-144页
    C.1 实验方法第126页
    C.2 软件框架和事例样本第126页
    C.3 事例挑选条件第126-130页
        C.3.1 初始事例挑选第127-129页
        C.3.2 Λ_c~+号选择第129-130页
        C.3.3 △E号区间第130页
    C.4 本底分析第130-133页
        C.4.1 衰变道Λ_c~+-→pη(π~0),η(π~0)→γγ第130-132页
        C.4.2 Λ_c~+→pη(π~+π~-π~0)衰变过程第132-133页
    C.5 信号提取和分支比计算第133-136页
        C.5.1 Λ_c~+→pη分支比第133-134页
        C.5.2 Λ_c~+→pπ~0衰变分支比上限第134-136页
    C.6 系统误差第136-141页
        C.6.1 单个过程系统误差第136-139页
        C.6.2 Λ_c~+→pη衰变过程同时拟合的系统误差第139-141页
        C.6.3 Λ_c~+→pπ~0支比上限的系统误差第141页
    C.7 输入输出检查第141-143页
        C.7.1 Λ_c~+→pη程输入输出检查第142页
        C.7.2 Λ_c~+→pπ~0程输入输出检查第142-143页
    C.8 本章小结第143-144页
参考文献第144-146页
致谢第146-148页
在读期间发表的学术论文与取得的研究成果第148页

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