| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.1.1 制造误差分析方法概述 | 第8页 |
| 1.1.2 工业CT技术概述 | 第8-9页 |
| 1.2 模型配准方法的国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 初配准方法 | 第9-10页 |
| 1.2.2 精配准方法 | 第10-11页 |
| 1.3 基于工业CT检测的零件制造误差分析现状 | 第11-12页 |
| 1.4 课题来源 | 第12页 |
| 1.5 课题的内容及意义 | 第12-14页 |
| 1.5.1 课题内容 | 第12-13页 |
| 1.5.2 课题意义 | 第13-14页 |
| 1.6 论文组织结构 | 第14-16页 |
| 2 结合分布估计算法和二维OTSU的图像分割技术 | 第16-28页 |
| 2.1 引言 | 第16-17页 |
| 2.2 二维最大类间方差法 | 第17-18页 |
| 2.3 结合分布估计算法和二维最大类间方差法的图像分割方法 | 第18-21页 |
| 2.4 实验结果和分析 | 第21-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-28页 |
| 3 像素级和亚像素级边缘检测 | 第28-46页 |
| 3.1 像素级边缘检测 | 第28-34页 |
| 3.1.1 经典边缘检测算子 | 第28-31页 |
| 3.1.2 Canny边缘检测算法 | 第31-32页 |
| 3.1.3 像素级边缘检测算子效果对比 | 第32-34页 |
| 3.2 亚像素级边缘检测 | 第34-43页 |
| 3.2.1 空间矩算子 | 第35-39页 |
| 3.2.2 空间矩算子的误差补偿 | 第39-40页 |
| 3.2.3 本文方法 | 第40-41页 |
| 3.2.4 亚像素级边缘检测效果 | 第41-43页 |
| 3.3 本章小结 | 第43-46页 |
| 4 模型的配准技术和误差计算与显示 | 第46-66页 |
| 4.1 模型的初配准 | 第46-56页 |
| 4.1.1 术语定义 | 第46页 |
| 4.1.2 最小面积包围矩形的求取 | 第46-50页 |
| 4.1.3 图元特征的获取和变换参数的提取 | 第50-56页 |
| 4.2 模型的精配准技术 | 第56-58页 |
| 4.2.1 SVD-ICP算法 | 第56-58页 |
| 4.3 误差计算与显示 | 第58-60页 |
| 4.3.1 误差计算 | 第58-60页 |
| 4.3.2 误差显示 | 第60页 |
| 4.4 实验结果分析 | 第60-64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 5 系统设计和功能实现 | 第66-76页 |
| 5.1 软件设计与功能 | 第66-67页 |
| 5.2 软件实现 | 第67-70页 |
| 5.2.1 软件界面设计 | 第67-68页 |
| 5.2.2 软件视图显示 | 第68-69页 |
| 5.2.3 交互操作 | 第69-70页 |
| 5.3 应用实例 | 第70-75页 |
| 5.3.1 模型提取 | 第70-71页 |
| 5.3.2 初精配准的实现 | 第71-74页 |
| 5.3.3 误差计算和显示 | 第74-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 6 结论与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 结论 | 第76页 |
| 6.2 展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 附录 | 第84页 |