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光学元件研抛加工过程中表面/亚表面损伤的研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-19页
    1.1 课题来源第10页
    1.2 课题的研究背景及意义第10-11页
    1.3 国内外研究现状综述第11-17页
        1.3.1 光学元件研抛加工去除机理和表面/亚表面损伤机理的研究第11-14页
        1.3.2 加工过程仿真技术的研究第14-15页
        1.3.3 面向智能仿生算法的工艺参数优化研究第15-17页
    1.4 本文的主要研究内容第17-19页
第2章 研抛过程表面和亚表面损伤深度理论建模第19-28页
    2.1 表面/亚表面损伤深度模型第19-25页
        2.1.1 基于压痕断裂力学损伤模型建立第19-20页
        2.1.2 单磨粒切入深度模型第20-23页
        2.1.3 动态参数解析第23-25页
    2.2 表面和亚表面损伤深度模型分析第25-27页
    2.3 本章小结第27-28页
第3章 研抛过程的有限元仿真第28-44页
    3.1 碳化硅材料本构模型第28-29页
    3.2 有限元仿真模型的建立第29-31页
        3.2.1 几何模型第29-30页
        3.2.2 有限元仿真模型第30页
        3.2.3 约束与加载第30-31页
    3.3 仿真方案及流程第31-32页
    3.4 研抛过程的有限元仿真结果与分析第32-42页
        3.4.1 碳化硅研抛过程表面损伤影响规律第32-39页
        3.4.2 碳化硅陶瓷研抛过程亚表面损伤影响规律第39-42页
    3.5 本章小结第42-44页
第4章 碳化硅研抛表面/亚表面损伤实验研究第44-59页
    4.1 碳化硅研抛实验设计第44-49页
        4.1.1 实验设备和材料第44-45页
        4.1.2 检测方案第45-47页
        4.1.3 实验方案第47-49页
    4.2 碳化硅研抛实验结果分析第49-58页
        4.2.1 反应烧结碳化硅研抛表面形貌特征及表面粗糙度第49-54页
        4.2.2 无压烧结碳化硅研抛亚表面微裂纹损伤第54-58页
    4.3 本章小结第58-59页
第5章 碳化硅研抛亚表面损伤预测与抑制建模第59-73页
    5.1 正交实验方案设计第59-60页
    5.2 基于BP神经网络的亚表面预测模型建立第60-63页
    5.3 基于改进细菌觅食算法的亚表面损伤抑制模型建立第63-72页
        5.3.1 自适应步长的细菌觅食算法的基本原理第63-66页
        5.3.2 自适应步长的BFO算法测试第66-70页
        5.3.3 研抛工艺参数优选模型第70-71页
        5.3.4 基于改进细菌觅食算法亚表面损伤抑制结果分析第71-72页
    5.4 本章小结第72-73页
第6章 结论第73-75页
    6.1 总结第73-74页
    6.2 展望第74-75页
致谢第75-76页
参考文献第76-84页
作者简介第84-85页
攻读硕士学位期间研究成果第85页

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