摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 自动测试系统概述 | 第11-12页 |
1.2 仪器控制技术的国内外发展历程 | 第12-14页 |
1.3 研究目的和意义 | 第14-15页 |
1.4 主要研究内容及章节安排 | 第15-17页 |
第二章 面向信号测试环境及其相关标准与关键技术研究 | 第17-30页 |
2.1 面向仪器的测试环境局限性分析 | 第17-19页 |
2.2 面向信号的测试环境分析 | 第19-20页 |
2.3 IEEE 1641标准 | 第20-23页 |
2.3.1 SML层 | 第22页 |
2.3.2 BSC层 | 第22页 |
2.3.3 TSF层 | 第22-23页 |
2.3.4 TPL层 | 第23页 |
2.4 仪器控制技术 | 第23-28页 |
2.4.1 VISA技术 | 第23-24页 |
2.4.2 可互换虚拟仪器技术 | 第24-27页 |
2.4.3 几种仪器控制技术的对比 | 第27-28页 |
2.4.4 结论 | 第28页 |
2.5 COM技术 | 第28-29页 |
2.6 本章小结 | 第29-30页 |
第三章 IVI-SIGNAL驱动的总体设计思想 | 第30-40页 |
3.1 软件平台框架结构设计 | 第30-34页 |
3.2 IVI-Signal驱动在软件平台中的地位 | 第34-35页 |
3.3 IVI-Signal驱动设计方案 | 第35-38页 |
3.3.1 IVI-Signal驱动接.设计 | 第36-37页 |
3.3.2 IVI-Signal驱动实现方案 | 第37-38页 |
3.4 IVI-Signal驱动调用过程 | 第38-39页 |
3.5 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 测试仪器IVI-SIGNAL驱动的具体设计 | 第40-67页 |
4.1 函数发生器 | 第40-45页 |
4.1.1 所需信号能力及相关控制函数 | 第41-42页 |
4.1.2 函数发生器信号能力建模 | 第42-43页 |
4.1.3 函数发生器IVI-Signal驱动详细设计 | 第43-45页 |
4.2 程控电源 | 第45-49页 |
4.2.1 所需信号能力及相关控制函数 | 第46-47页 |
4.2.2 程控电源信号能力建模 | 第47页 |
4.2.3 程控电源IVI-Signal驱动详细设计 | 第47-49页 |
4.3 高速数字IO | 第49-55页 |
4.3.1 所需信号能力及相关控制函数 | 第50-52页 |
4.3.2 高速数字IO信号能力建模 | 第52页 |
4.3.3 高速数字IO IVI-Signal驱动详细设计 | 第52-55页 |
4.4 多功能协议模块 | 第55-63页 |
4.4.1 所需信号能力及相关控制函数 | 第56-58页 |
4.4.2 多功能协议模块TSF信号建模 | 第58-59页 |
4.4.3 多功能协议模块信号能力建模 | 第59-60页 |
4.4.4 多功能协议模块IVI-Signal驱动详细设计 | 第60-63页 |
4.5 测试仪器IVI-Signal驱动功能验证 | 第63-66页 |
4.5.1 测试方法分析 | 第63-64页 |
4.5.2 功能验证预期目标 | 第64-65页 |
4.5.3 功能验证前期准备 | 第65-66页 |
4.5.4 功能验证结果分析 | 第66页 |
4.6 本章小结 | 第66-67页 |
第五章 模拟信号波形显示控件设计 | 第67-77页 |
5.1 软件需求分析 | 第67页 |
5.2 软件设计思路 | 第67-68页 |
5.3 软件主要优点 | 第68-69页 |
5.4 软件详细设计 | 第69-74页 |
5.4.1 软件主界面设计 | 第69-71页 |
5.4.2 软件主要功能设计 | 第71-73页 |
5.4.3 软件接.设计 | 第73-74页 |
5.5 软件功能验证 | 第74-76页 |
5.5.1 软件主要功能验证 | 第74-76页 |
5.5.2 软件功能验证结果分析 | 第76页 |
5.6 本章小结 | 第76-77页 |
第六章 总结与展望 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-81页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第81-82页 |