| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题的意义 | 第10-11页 |
| ·激光损伤阈值测试研究历史及其发展现状 | 第11-13页 |
| ·国内外检测光学薄膜激光损伤的主要判别方法 | 第13-15页 |
| ·激光薄膜损伤阈值测试测试及其计算方法 | 第15-16页 |
| ·测试方法 | 第15-16页 |
| ·计算方法 | 第16页 |
| ·本文主要研究工作 | 第16-17页 |
| 2 系统开发平台简介 | 第17-25页 |
| ·平台开发环境简介 | 第17页 |
| ·平台功能 | 第17-24页 |
| ·LabVIEW的操作模板 | 第17-21页 |
| ·创建一个LabVIEW程序 | 第21-23页 |
| ·程序调试技术 | 第23页 |
| ·程序实例 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 激光薄膜损伤机理及其特点研究 | 第25-32页 |
| ·光学薄膜激光损伤机理 | 第25-28页 |
| ·热效应损伤 | 第25页 |
| ·电子崩电离 | 第25-26页 |
| ·多光子电离 | 第26页 |
| ·自由等离子体吸收 | 第26页 |
| ·杂质缺陷 | 第26-27页 |
| ·超声波 | 第27页 |
| ·非线性吸收 | 第27-28页 |
| ·影响激光薄膜损伤阈值的因素 | 第28-31页 |
| ·光学薄膜对激光损伤阈值的影响 | 第28-29页 |
| ·激光器参数的影响 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 4 激光薄膜损伤阈值测试系统方案设计 | 第32-51页 |
| ·测试原理 | 第32-33页 |
| ·激光薄膜样片定量测试 | 第32页 |
| ·激光薄膜样片的定性检测 | 第32-33页 |
| ·激光薄膜损伤阈值测试系统方案 | 第33页 |
| ·激光薄膜损伤阈值测试系统元器件选择 | 第33-44页 |
| ·激光器选择及其实验研究 | 第34-37页 |
| ·衰减器选择及其实验研究 | 第37-40页 |
| ·样品调节架与样品加持架选择及其实验研究 | 第40-41页 |
| ·能量标定 | 第41页 |
| ·He-Ne散射光法判别激光损伤实验研究 | 第41-44页 |
| ·光斑有效面积实验研究 | 第44-48页 |
| ·CCD法测量光斑有效面积 | 第44-46页 |
| ·刀口法法测量光斑有效面积 | 第46-47页 |
| ·相纸削波成像法 | 第47页 |
| ·不同测试方法的比较 | 第47-48页 |
| ·损伤后的表明形貌 | 第48页 |
| ·激光薄膜损伤阈值计算算法研究 | 第48-49页 |
| ·激光薄膜损伤阈值测试系统总体设计 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 5 控制系统软件设计 | 第51-67页 |
| ·激光损伤阈值测试自动控制系统设计 | 第51-55页 |
| ·激光损伤阈值测试自动控制系统设计需要解决的主要问题 | 第52-53页 |
| ·激光损伤阈值测试自动控制系统程序设计 | 第53-55页 |
| ·激光器控制系统 | 第55-57页 |
| ·激光器与计算机接口通讯程序 | 第55-56页 |
| ·激光器连续工作时间程序 | 第56页 |
| ·激光器自动控制系统主程序设计 | 第56-57页 |
| ·程控衰减系统控制 | 第57-61页 |
| ·程控衰减器与计算机通讯接口通信程序 | 第58-59页 |
| ·程控衰减器操作程序 | 第59-61页 |
| ·程控衰减器总体控制程序 | 第61页 |
| ·样品控制系统 | 第61-64页 |
| ·样品控制系统与计算机接口通讯程序 | 第62页 |
| ·样品控制系统程序 | 第62-64页 |
| ·样片移动系统的主程序 | 第64页 |
| ·能量监测 | 第64-65页 |
| ·激光损伤阈值计算软件 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 6 结论 | 第67-70页 |
| ·结论 | 第67-68页 |
| ·对今后工作的建议 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-78页 |
| 附录 | 第78-80页 |