| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 研究的内容 | 第10-11页 |
| 1.3 论文体系结构 | 第11-13页 |
| 第二章 在制品库存控制的研究与应用现状 | 第13-18页 |
| 2.1 在制品库存控制的定义 | 第13页 |
| 2.2 在制品库存控制的意义 | 第13-14页 |
| 2.3 在制品库存控制的指标体系 | 第14-15页 |
| 2.4 在制品库存控制的策略 | 第15-16页 |
| 2.5 在制品库存控制的应用现状 | 第16-18页 |
| 第三章 半导体A公司的在制品库存控制现状 | 第18-30页 |
| 3.1 工厂运营和生产工艺流程介绍 | 第18-22页 |
| 3.1.1 工厂运营流程 | 第18-20页 |
| 3.1.2 生产工艺流程 | 第20-22页 |
| 3.2 产品需求分析 | 第22-25页 |
| 3.3 芯片准备车间在制品库存现状 | 第25-27页 |
| 3.4 测试车间在制品库存现状 | 第27-28页 |
| 3.5 在制品库存管理中的问题 | 第28-30页 |
| 3.5.1 现存的在制品库存管理思想 | 第28-29页 |
| 3.5.2 在制品库存管理的主要问题 | 第29-30页 |
| 第四章 芯片准备车间在制品库存控制的改进策略 | 第30-43页 |
| 4.1 瓶颈理论（TOC）的概念及其理论基础 | 第30-32页 |
| 4.2 芯片准备车间瓶颈工序分析 | 第32-34页 |
| 4.3 应用TOC 理论优化芯片准备车间在制品库存 | 第34-41页 |
| 4.3.1 优化芯片准备车间生产计划 | 第35-37页 |
| 4.3.2 提高刻蚀设备的可用率管理 | 第37-38页 |
| 4.3.3 优化芯片准备车间作业管理 | 第38-41页 |
| 4.4 优化后的芯片准备车间在制品库存状况 | 第41-43页 |
| 第五章 测试车间在制品库存控制的改进策略 | 第43-57页 |
| 5.1 精益生产单件流的概念 | 第43-44页 |
| 5.2 应用单件流理论减少常温测试工序在制品库存 | 第44-53页 |
| 5.2.1 测试车间生产工序 | 第44-46页 |
| 5.2.2 常温测试工序生产节拍 | 第46-47页 |
| 5.2.3 测试车间生产单元布局 | 第47-51页 |
| 5.2.4 测试车间生产物流管理 | 第51-52页 |
| 5.2.5 常温测试单元在制品库存 | 第52-53页 |
| 5.3 缩短高低温测试工序生产周期 | 第53-56页 |
| 5.4 优化后的测试车间在制品库存 | 第56-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 6.1 全文总结 | 第57页 |
| 6.2 展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 攻读硕士学位期间已发表的论文 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |