摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 研究背景 | 第10-12页 |
1.1.1 自动测试系统简介 | 第10-11页 |
1.1.2 自动测试系统的历史发展 | 第11-12页 |
1.2 国内外自动测试系统的研究现状 | 第12-13页 |
1.3 研究目的和意义 | 第13-14页 |
1.4 本文主要工作及章节安排 | 第14-16页 |
第二章 系统整体软件框架与相关技术研究 | 第16-26页 |
2.1 面向信号的ATS的测试环境研究 | 第16-18页 |
2.1.1 面向仪器的ATS的测试环境的局限性 | 第16-17页 |
2.1.2 面向信号的ATS测试环境分析 | 第17-18页 |
2.2 系统整体软件框架 | 第18-20页 |
2.3 仪器控制模块与TPS生成工具的地位和作用 | 第20-21页 |
2.4 仪器控制技术研究 | 第21-25页 |
2.4.1 VISA技术 | 第21-22页 |
2.4.2 IVI-C和IVI-COM | 第22-23页 |
2.4.3 IVI-MSS | 第23页 |
2.4.4 IVI-Signal | 第23-24页 |
2.4.5 总结 | 第24-25页 |
2.5 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 仪器控制模块的设计和实现 | 第26-46页 |
3.1 仪器控制模块的设计需求分析 | 第26-27页 |
3.2 仪器控制模块总体设计思路 | 第27-28页 |
3.3 仪器控制模块的详细设计 | 第28-33页 |
3.3.1 关键软件技术 | 第28-29页 |
3.3.2 IVI-Signal驱动的接口设计 | 第29-31页 |
3.3.3 与STD信号组件程序之间的交互 | 第31-33页 |
3.4 数字万用表模块的IVI-SIGNAL驱动实现 | 第33-39页 |
3.4.1 系统的数字万用表模块简介 | 第33-35页 |
3.4.2 数字万用表的信号能力建模 | 第35-37页 |
3.4.3 万用表IVI-Signal驱动的实现 | 第37-39页 |
3.5 任意波形发生器模块的IVI-SIGNAL驱动实现 | 第39-45页 |
3.5.1 系统的任意波形发生器模块简介 | 第39-41页 |
3.5.2 任意波形发生器信号能力建模 | 第41-42页 |
3.5.3 任意波形发生器IVI-Signal驱动详细设计 | 第42-45页 |
3.6 本章小结 | 第45-46页 |
第四章 TPS生成工具的设计和实现 | 第46-76页 |
4.1 TPS生成工具设计需求 | 第46-47页 |
4.2 总体设计 | 第47-53页 |
4.2.1 测试描述文档分析 | 第47-50页 |
4.2.2 生成的TPS代码框架 | 第50-53页 |
4.2.3 TPS生成工具的软件形式 | 第53页 |
4.3 详细设计 | 第53-72页 |
4.3.1 技术研究 | 第53-54页 |
4.3.2 测试项执行函数的生成 | 第54-61页 |
4.3.3 测试流程控制函数的生成 | 第61-65页 |
4.3.4 选择部分测试项功能的实现 | 第65-67页 |
4.3.5 其他部分代码的生成 | 第67页 |
4.3.6 测试结果保存的外部程序设计 | 第67-70页 |
4.3.7 Active X控件的实现 | 第70-72页 |
4.4 TPS生成工具的使用 | 第72-75页 |
4.4.1 TPS生成工具的导入 | 第73-74页 |
4.4.2 TPS测试代码的编译链接 | 第74-75页 |
4.4.3 dll文件的加载 | 第75页 |
4.5 本章小结 | 第75-76页 |
第五章 功能验证 | 第76-89页 |
5.1 仪器控制模块的功能验证 | 第76-80页 |
5.1.1 单元级测试 | 第76-78页 |
5.1.2 系统级测试 | 第78-79页 |
5.1.3 结论 | 第79-80页 |
5.2 TPS生成工具的功能验证 | 第80-87页 |
5.2.1 电路板故障测试 | 第80-84页 |
5.2.2 TPS生成工具可移植性验证 | 第84-87页 |
5.2.3 结论 | 第87页 |
5.3 本章小结 | 第87-89页 |
第六章 总结与展望 | 第89-90页 |
致谢 | 第90-91页 |
参考文献 | 第91-93页 |
附录 | 第93-97页 |
攻读硕士期间取得的研究成果 | 第97-98页 |