摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 研究背景与选题意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第12-16页 |
1.2.1 EPON技术原理 | 第14-16页 |
1.3 研究内容与论文结构 | 第16-18页 |
第2章 技术需求与系统方案 | 第18-28页 |
2.1 需求分析 | 第18-25页 |
2.1.1 业务类型和设备类型 | 第19页 |
2.1.2 光纤保护倒换功能与类型 | 第19-23页 |
2.1.3 业务承载要求 | 第23-24页 |
2.1.4 环境要求 | 第24页 |
2.1.5 电磁兼容性设计要求 | 第24-25页 |
2.2 方案设计 | 第25-27页 |
2.2.1 ONU的系统框图 | 第25-26页 |
2.2.2 器件选择 | 第26-27页 |
2.3 PCB信号完整性和电磁兼容设计 | 第27-28页 |
2.3.1 信号完整性设计 | 第27页 |
2.3.2 电磁兼容设计 | 第27-28页 |
第3章 ONU电路设计 | 第28-42页 |
3.1 ONU芯片的功能与结构 | 第28-30页 |
3.1.1 ONU芯片的功能 | 第28-29页 |
3.1.2 SGC3100的MAC | 第29页 |
3.1.3 MPCP(Multi-Point Control Protocol多点控制协议) | 第29-30页 |
3.2 SGC3100芯片的主要接口 | 第30页 |
3.3 SGC3100芯片的FLASH接口 | 第30-31页 |
3.4 SGC3100芯片和FLASH接口电路 | 第31-32页 |
3.5 SGC3100芯片的PON接口 | 第32-33页 |
3.6 SGC3100芯片和光模块接口电路图 | 第33-34页 |
3.7 PHY接口 | 第34-36页 |
3.8 SGC3100的GPIO接口 | 第36-37页 |
3.9 SGC3100的JTAG接口电路电路 | 第37-38页 |
3.10 SGC3100的UART电路 | 第38-39页 |
3.11 时钟电路 | 第39页 |
3.12 LED接口连接说明 | 第39-42页 |
第4章 外围电路设计 | 第42-60页 |
4.1 以太网接口 | 第42-46页 |
4.1.1 以太网交换电路 | 第42页 |
4.1.2 88E6063概述 | 第42-43页 |
4.1.3 88E6063引脚说明 | 第43-46页 |
4.2 LPC1766简介 | 第46-55页 |
4.2.1 LPC1766简介 | 第47页 |
4.2.2 LPC1766的UART口 | 第47页 |
4.2.3 RS232接口标准 | 第47-48页 |
4.2.4 RS232接口电路设计 | 第48-51页 |
4.2.5 RS232接口防护电路 | 第51-52页 |
4.2.6 RS485接口电路设计 | 第52-55页 |
4.3 电源电路 | 第55-60页 |
4.3.0 系统电源电路 | 第55-57页 |
4.3.1 隔离电源 | 第57页 |
4.3.2 电源转换电路 | 第57-58页 |
4.3.3 232/485 隔离电源 | 第58-60页 |
第5章 PCB设计与系统测试 | 第60-73页 |
5.1 信号完整性设计 | 第60-64页 |
5.1.1 信号完整性概述 | 第60-61页 |
5.1.2 信号完整性仿真 | 第61-64页 |
5.2 印制电路板设计 | 第64-67页 |
5.2.1 印制电路板的叠层设计 | 第64页 |
5.2.2 印制电路板的布局 | 第64-65页 |
5.2.3 印制电路板的布线设计 | 第65页 |
5.2.4 印制电路板的布线设计 | 第65页 |
5.2.5 电源完整性中电容的选择 | 第65-67页 |
5.3 系统测试与EMC测试 | 第67-73页 |
5.3.1 设备功耗测试 | 第68页 |
5.3.2 串口通信测试 | 第68-69页 |
5.3.3 网口通信测试 | 第69-70页 |
5.3.4 ONU的静电放电抗扰度测试 | 第70-71页 |
5.3.5 绝缘耐压测试 | 第71-72页 |
5.3.6 测试小结 | 第72-73页 |
第6章 总结与展望 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
致谢 | 第76页 |