CdO多晶块体热电性能优化研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第9页 |
| 1.2 热电材料发展历史 | 第9-10页 |
| 1.3 基本理论及实际应用 | 第10-14页 |
| 1.3.1 基本理论 | 第10-12页 |
| 1.3.2 实际应用 | 第12-13页 |
| 1.3.3 提高热电优值的有效方式 | 第13-14页 |
| 1.4 本课题主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 实验及测试方法 | 第15-19页 |
| 2.1 实验原料 | 第15页 |
| 2.2 制备方法 | 第15-16页 |
| 2.3 材料表征及所用实验设备 | 第16-19页 |
| 2.3.1 X射线衍射分析（XRD） | 第16-17页 |
| 2.3.2 X射线光电子能谱分析（XPS） | 第17页 |
| 2.3.3 扫描电子显微镜（SEM） | 第17页 |
| 2.3.4 霍尔测试 | 第17页 |
| 2.3.5 塞贝克系数及电阻率测试 | 第17-18页 |
| 2.3.6 热导率测试 | 第18-19页 |
| 第3章 Mg/Ca双掺对CdO热电性能优化 | 第19-28页 |
| 3.1 引言 | 第19页 |
| 3.2 实验样品制备 | 第19-20页 |
| 3.3 样品晶体结构、微观形貌及霍尔测试表征 | 第20-23页 |
| 3.3.1 样品晶体结构表征 | 第20-21页 |
| 3.3.2 样品微观形貌表征 | 第21-22页 |
| 3.3.3 样品霍尔测试表征 | 第22-23页 |
| 3.4 样品热电参量表征 | 第23-27页 |
| 3.4.1 样品电学性能表征 | 第23-24页 |
| 3.4.2 样品热学性能表征 | 第24-27页 |
| 3.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第4章 纳米Ag对Cd O热电性能优化 | 第28-37页 |
| 4.1 引言 | 第28页 |
| 4.2 实验样品制备 | 第28页 |
| 4.3 样品晶体结构、微观形貌及霍尔测试表征 | 第28-32页 |
| 4.3.1 样品晶体结构表征 | 第28-29页 |
| 4.3.2 样品XPS表征 | 第29-30页 |
| 4.3.3 样品微观形貌表征 | 第30-31页 |
| 4.3.4 样品霍尔测试表征 | 第31-32页 |
| 4.4 样品热电参量表征 | 第32-36页 |
| 4.4.1 样品电学性能表征 | 第32-34页 |
| 4.4.2 样品热学性能表征 | 第34-36页 |
| 4.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第5章 微孔结构对CdO热电性能优化 | 第37-46页 |
| 5.1 引言 | 第37页 |
| 5.2 实验样品制备 | 第37-38页 |
| 5.3 样品晶体结构、微观形貌及霍尔测试表征 | 第38-40页 |
| 5.3.1 样品晶体结构表征 | 第38页 |
| 5.3.2 样品微观形貌表征 | 第38-39页 |
| 5.3.3 样品霍尔测试表征 | 第39-40页 |
| 5.4 样品热电参量表征 | 第40-45页 |
| 5.4.1 样品电学性能表征 | 第40-42页 |
| 5.4.2 样品热学性能表征 | 第42-45页 |
| 5.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 总结与展望 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 攻读硕士期间发表学术论文 | 第53页 |
