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高密度存储服务器可靠性设计和实现方法研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第13-19页
    1.1 研究背景与意义第13-15页
    1.2 本课题的研究现状第15-17页
    1.3 本文的主要工作及贡献第17页
    1.4 本课题的组织结构第17-19页
第二章 相关技术研究第19-31页
    2.1 可靠性系统异常掉电第19-22页
        2.1.1 系统异常掉电导致可靠性降低的原因第20页
        2.1.2 曙光S640-G10存储服务器掉电保护设计第20-21页
        2.1.3 浪潮AS1200磁盘阵列掉电保护设计第21-22页
        2.1.4 Dell MD3400磁盘阵列掉电保护设计第22页
    2.2 可靠性硬盘振动第22-29页
        2.2.1 风扇引起的硬盘振动导致可靠性降低的原因第23-24页
        2.2.2 高密度存储服务器散热技术相关研究第24-28页
        2.2.3 Newisys公司EDA-4605散热设计第28页
        2.2.4 AIC公司的SB509-CP2散热设计第28-29页
    2.3 小结第29-31页
第三章 S650-G20系统异常掉电数据保护设计第31-43页
    3.1 系统异常掉电数据保护总体设计第31-33页
    3.2 关键部件选型第33-38页
        3.2.1 NVDIMM第33-36页
        3.2.2 超级电容第36-38页
    3.3 异常掉电可靠性设计第38-41页
        3.3.1 掉电检测第38-39页
        3.3.2 异常掉电处理第39-40页
        3.3.3 异常掉电处理主板电容设计第40页
        3.3.4 异常掉电恢复第40-41页
    3.4 小结第41-43页
第四章 S650-G20硬盘振动可靠性设计第43-59页
    4.1 散热总体设计第43-45页
    4.2 关键部件选型第45-50页
    4.3 散热风道设计第50-53页
    4.4 散热仿真第53-55页
    4.5 散热策略设计第55-57页
    4.6 小结第57-59页
第五章 S650-G20可靠性验证第59-73页
    5.1 系统异常掉电数据保护第59-64页
        5.1.1 系统掉电保持时间测试第59-60页
        5.1.2 系统异常掉电数据保护测试第60-64页
        5.1.3 系统异常掉电数据保护测试总结第64页
    5.2 针对硬盘振动可靠性设计的测试第64-71页
        5.2.1 S650-G20散热测试第64-67页
        5.2.2 S650-G20振动性能测试第67-70页
        5.2.3 S650-G20硬盘可靠性测试总结第70-71页
    5.3 小结第71-73页
第六章 总结和展望第73-77页
    6.1 总结第73-74页
    6.2 展望及后续改进第74-77页
参考文献第77-79页
致谢第79-81页
个人简历第81页

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