接触器电寿命试验系统及关键技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题的来源、目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 接触器电寿命试验国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 本课题的主要工作 | 第12-13页 |
| 第2章 电寿命试验装置设计原理与分析 | 第13-21页 |
| 2.1 交流接触器电寿命试验条件 | 第13-16页 |
| 2.2 控制逻辑顺序设计 | 第16页 |
| 2.3 控制时序分析与设计 | 第16-18页 |
| 2.4 时间变量计算 | 第18页 |
| 2.5 试验频率和功率因数的计算 | 第18-20页 |
| 2.6 本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 电寿命试验装置硬件系统设计 | 第21-28页 |
| 3.1 试验设备的总体构成 | 第21-22页 |
| 3.2 试验设备主回路设计 | 第22-23页 |
| 3.3 试验设备硬件系统设计 | 第23-27页 |
| 3.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第4章 电寿命试验装置软件系统设计 | 第28-37页 |
| 4.1 软件系统功能要求 | 第28-30页 |
| 4.2 Wincc flexible组态软件介绍 | 第30页 |
| 4.3 触摸屏软件设计 | 第30-33页 |
| 4.3.1 触摸屏软件的设计功能 | 第30-31页 |
| 4.3.2 软件系统实现方法和过程 | 第31-33页 |
| 4.4 PLC程序设计 | 第33-36页 |
| 4.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第5章 电寿命试验设备关键技术研究 | 第37-54页 |
| 5.1 可控电抗器 | 第38-40页 |
| 5.1.1 不可控的非线性电抗器 | 第38-39页 |
| 5.1.2 可控饱和电抗器 | 第39-40页 |
| 5.2 可控电抗器的工作原理分析 | 第40-45页 |
| 5.2.1 半周期内铁芯处于完全不饱和状态 | 第41-42页 |
| 5.2.2 半周期内铁芯部分时间饱和情况 | 第42-44页 |
| 5.2.3 半周期内处于饱和状态 | 第44-45页 |
| 5.3 基于可控电抗器原理的磁控变压器建模与仿真 | 第45-51页 |
| 5.3.1 仿真软件介绍 | 第45-46页 |
| 5.3.2 常规变压器的仿真研究 | 第46-48页 |
| 5.3.3 磁控变压器的仿真研究 | 第48-51页 |
| 5.4 磁控变压器的设计 | 第51-52页 |
| 5.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第6章 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 在学研究成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
