InP基光子集成器件的二次外延生长
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 光电集成概念 | 第9-10页 |
| 1.2 有源器件与无源器件的集成 | 第10-14页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 2 MOCVD外延生长与测试技术 | 第16-31页 |
| 2.1 MOCVD外延技术 | 第16-19页 |
| 2.2 MOCVD设备的组成 | 第19-23页 |
| 2.3 外延材料测试技术 | 第23-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 光子集成器件各外延层生长 | 第31-41页 |
| 3.1 可调谐波长转换器的组成 | 第31-32页 |
| 3.2 P-InP外延生长 | 第32-33页 |
| 3.3 InGaAsP层外延生长 | 第33-35页 |
| 3.4 P~+-InGaAs外延生长 | 第35-38页 |
| 3.5 全结构生长 | 第38-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 二次外延生长 | 第41-49页 |
| 4.1 二次外延生长前的样品刻蚀和表面处理 | 第41-43页 |
| 4.2 芯片清洗 | 第43-45页 |
| 4.3 二次外延生长 | 第45-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 5 总结与展望 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-57页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表论文 | 第57页 |