摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-22页 |
·研究背景与意义 | 第10-11页 |
·微光成像器件技术的发展状况 | 第11-17页 |
·微光像增强器技术发展状况 | 第11-14页 |
·微光CCD/CMOS技术发展状况 | 第14-16页 |
·微光增强型CCD/CMOS技术发展状况 | 第16-17页 |
·微光夜视技术性能评价研究 | 第17-21页 |
·微光夜视技术性能评价综述 | 第17-18页 |
·微光夜视技术性能评价研究现状 | 第18-21页 |
·论文研究内容及章节安排 | 第21-22页 |
第2章 微光成像系统的MRC模型与作用距离模型 | 第22-36页 |
·微光ICCD成像系统MRC模型推导的基本过程 | 第22-32页 |
·目标与背景平均辐亮度和表观对比度 | 第22-24页 |
·光阴极表面接收的目标和背景的光通量 | 第24页 |
·CCD像元探测的目标或背景的电子通量 | 第24-25页 |
·三条带靶标的图像信噪比 | 第25-27页 |
·微光ICCD成像系统实际输出信号 | 第27-29页 |
·微光ICCD成像系统噪声 | 第29-30页 |
·微光ICCD成像系统的MRC | 第30-32页 |
·微光CCD/CMOS夜视系统的MRC模型推导 | 第32页 |
·基于MRC的微光成像系统作用距离模型 | 第32-35页 |
·目标与场景模型 | 第33页 |
·大气传输的影响 | 第33-34页 |
·作用距离模型 | 第34-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第3章 低照度成像组件的MRC测量及其作用距离估算 | 第36-46页 |
·低照度CCD/CMOS成像组件MRC测量 | 第36-42页 |
·MRC的测试系统 | 第36-39页 |
·MRC测量结果及其分析 | 第39-42页 |
·基于MRC的低照度成像组件作用距离模拟与分析 | 第42-44页 |
·低照度成像组件的作用距离估算 | 第42-43页 |
·分析和讨论 | 第43-44页 |
·本章小结 | 第44-46页 |
第4章 选通成像系统的等效曝光量理论实验及其MRC测量 | 第46-60页 |
·选通成像系统的等效曝光量理论 | 第46-49页 |
·照明激光脉冲占空比 | 第47-48页 |
·光电阴极平均工作电流密度与目标表面照度 | 第48-49页 |
·选通信号影响实验及数据分析 | 第49-56页 |
·实验方案 | 第49-50页 |
·实验配置 | 第50-52页 |
·实验过程 | 第52-53页 |
·实验数据处理及分析结论 | 第53-56页 |
·微光ICMOS成像系统的MRC测量 | 第56-58页 |
·测量实验 | 第56-57页 |
·实验数据处理及分析结论 | 第57-58页 |
·选通微光ICMOS成像系统的作用距离估算 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第5章 结论 | 第60-62页 |
·主要工作 | 第60页 |
·主要创新点 | 第60-61页 |
·有待进一步研究的问题 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-66页 |
攻读学位期间发表的论文与研究成果清单 | 第66-67页 |
致谢 | 第67页 |