| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 序言 | 第8-22页 |
| ·研究背景与意义 | 第8-9页 |
| ·张量的定义和符号 | 第9-12页 |
| ·多联苯和螺旋六角系统的完全强迫数的相关概念 | 第12-13页 |
| ·本文用到的几种重要的分子拓扑指标 | 第13-14页 |
| ·本文主要定理 | 第14-22页 |
| 2 张量的Perron-Frobenius定理 | 第22-43页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·非负三维长方形张量的Perron-Frobenius定理 | 第22-31页 |
| ·非负广义长方形张量的Perron-Frobenius定理 | 第31-43页 |
| 3 多环六角系统的完全强迫数 | 第43-50页 |
| ·引言 | 第43-44页 |
| ·多联苯系统的完全强迫数 | 第44-45页 |
| ·螺旋六角系统的完全强迫数 | 第45-50页 |
| 4 随机多环链的拓扑指标 | 第50-66页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·随机亚苯基链和六角链的Kirchhoff指标的期望值 | 第50-57页 |
| ·随机螺旋链的Hosoya指标和Merrifield-Simmons指标的期望值 | 第57-66页 |
| 参考文献 | 第66-74页 |
| 在读期间发表的论文 | 第74-75页 |
| 后记 | 第75页 |