| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1. 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题来源及研究意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-14页 |
| ·PCB 数据转换技术现状 | 第11-12页 |
| ·测试数据转换现状 | 第12-14页 |
| ·PCB 探针测试发展现状 | 第14-15页 |
| ·主要研究内容 | 第15页 |
| ·主要工作及创新点 | 第15-16页 |
| ·章节安排 | 第16-17页 |
| 2. 总体设计 | 第17-24页 |
| ·应用环境分析 | 第17-19页 |
| ·探针测试 | 第17-19页 |
| ·PCB 数据转换 | 第19页 |
| ·设计思想的选取 | 第19-22页 |
| ·传统设计思想的弊端 | 第19-20页 |
| ·新型设计思想的探索 | 第20-22页 |
| ·总体构架及功能模块 | 第22-23页 |
| ·总体构架 | 第22页 |
| ·PCB 数据文件分析 | 第22-23页 |
| ·转换坐标及类型文件 | 第23页 |
| ·LabVIEW 控制程序 | 第23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 3. PCB 数据转换准备 | 第24-38页 |
| ·常见 PCB 文件的数据分析 | 第24-36页 |
| ·Protel PCB 文件的数据分析 | 第24-27页 |
| ·Altium Designer 6 PCB 文件的数据分析 | 第27-29页 |
| ·Cadence PCB 文件的数据分析 | 第29-34页 |
| ·文件内容相似性比较 | 第34-36页 |
| ·文件数据存储结构的比较 | 第36页 |
| ·数据转换标准 | 第36-37页 |
| ·数据转换的原理 | 第37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 4. 转换过程中影响转换结果的因素分析 | 第38-44页 |
| ·PCB 基准设置 | 第39-42页 |
| ·PCB 原点设置 | 第40页 |
| ·PCB 坐标轴设置 | 第40-41页 |
| ·PCB 参考点即 Mark 点设置 | 第41-42页 |
| ·PCB 的长、宽、厚尺寸的影响 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 5. PCB 数据转换在探针测试中实现 | 第44-58页 |
| ·PCB 数据转换准备 | 第44页 |
| ·转换过程的实现 | 第44-54页 |
| ·从 AD6 到 CaPture CIS 的转换 | 第44-46页 |
| ·AD6 的 PCB 封装库的转换准备 | 第46-47页 |
| ·从 AD6 到 PCB Editor 的封装转换 | 第47-49页 |
| ·PCB 设计文件从 AD6 到 PCB Editor d 的转换 | 第49-54页 |
| ·坐标文件导入准备 | 第54-56页 |
| ·PCB 数据转换在探针测试中实现 | 第56-57页 |
| ·系统初始化 | 第56页 |
| ·导入坐标 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 6. 总结及展望 | 第58-60页 |
| ·总结 | 第58页 |
| ·展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
