摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·脉冲星的基本概念及其应用 | 第7-8页 |
·脉冲星的基本概念 | 第7页 |
·脉冲星的研究及应用 | 第7-8页 |
·脉冲星及模拟技术研究概况 | 第8-11页 |
·国外脉冲星研究概况 | 第8-9页 |
·国内脉冲星及模拟技术的研究概况 | 第9-11页 |
·选题的目的和意义 | 第11页 |
·论文的主要工作与内容安排 | 第11-13页 |
第二章 X 射线脉冲星地面模拟系统总体设计 | 第13-21页 |
·脉冲星的信号特性 | 第13-15页 |
·脉冲星的物理特性 | 第13-14页 |
·X 射线脉冲星的累积脉冲轮廓 | 第14-15页 |
·X 射线脉冲星地面模拟系统的需求分析 | 第15-16页 |
·空间 X 射线脉冲星的探测过程 | 第15-16页 |
·X 射线脉冲星地面模拟系统的性能指标 | 第16页 |
·X 射线脉冲星地面模拟系统的总体设计方案 | 第16-19页 |
·系统组成和工作原理 | 第16-17页 |
·光子信号模拟系统中各模块的功能与实现 | 第17-18页 |
·单光子探测系统中各模块的功能与实现 | 第18-19页 |
·本章小结 | 第19-21页 |
第三章 X 射线脉冲星光子信号模拟系统的设计 | 第21-37页 |
·高精度 X 射线脉冲星轮廓信号发生器的设计 | 第21-24页 |
·直接数字频率合成技术的原理 | 第21-23页 |
·基于 DDS 的 X 射线脉冲星轮廓信号发生器的设计 | 第23-24页 |
·线性可控光源的设计 | 第24-29页 |
·线性可控光源的设计原理 | 第25页 |
·LED 的特性 | 第25-26页 |
·PIN 光电二极管 | 第26-27页 |
·线性可控光源的硬件电路设计 | 第27-29页 |
·光衰减分析及衰减材料 | 第29-32页 |
·光衰减分析 | 第29-31页 |
·衰减材料 | 第31-32页 |
·光学屏蔽装置 | 第32页 |
·关键功能模块的测试 | 第32-36页 |
·脉冲星轮廓信号发生器的测试 | 第32-35页 |
·线性可控光源的测试 | 第35-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第四章 单光子探测系统的设计 | 第37-57页 |
·单光子计数及 TOA 标定原理 | 第37-39页 |
·PMT 的特性及选型 | 第39-44页 |
·PMT 的结构和工作原理 | 第39-41页 |
·PMT 探测弱光时输出信号的特征 | 第41页 |
·单光子计数系统对 PMT 的要求 | 第41-42页 |
·PMT 的选型 | 第42-44页 |
·甄别器的设计 | 第44-45页 |
·甄别器的原理 | 第44-45页 |
·甄别器的器件选型 | 第45页 |
·高时间分辨率电子读出系统的设计 | 第45-51页 |
·电子读出系统的总体设计 | 第45-46页 |
·FPGA 系统 | 第46-49页 |
·MCU 系统 | 第49-51页 |
·光子计数的误差分析 | 第51-54页 |
·光子流的统计噪声 | 第51页 |
·背景计数 | 第51-52页 |
·累积信噪比 | 第52页 |
·脉冲堆积效应 | 第52-54页 |
·关键功能模块的测试 | 第54-56页 |
·PMT 测试 | 第54-55页 |
·甄别器的测试 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 X 射线脉冲星地面模拟系统的测试及验证 | 第57-63页 |
·光子流量的联合测试 | 第57-60页 |
·光子流量随甄别电压变化的测试 | 第57-58页 |
·光子流量的标定 | 第58-60页 |
·光子计数累积信噪比的测试 | 第60-61页 |
·实测 TOA 数据分析与验证 | 第61-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第六章 总结与展望 | 第63-65页 |
·总结 | 第63-64页 |
·展望 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |