基于March C+算法的MBIST设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 前言 | 第6-9页 |
| ·集成电路可测性设计的重要性 | 第6-7页 |
| ·SOC芯片对存储器设计带来的挑战 | 第7-8页 |
| ·本论文研究主要内容与组织结构 | 第8-9页 |
| 第二章 存储器设计和测试技术基础 | 第9-22页 |
| ·存储器电路模型 | 第9-11页 |
| ·功能模型 | 第9-10页 |
| ·储存单元 | 第10-11页 |
| ·存储器的缺陷和故障模型 | 第11-17页 |
| ·存储器的缺陷 | 第11页 |
| ·存储器的故障模型 | 第11-17页 |
| ·存储器的测试类型 | 第17-18页 |
| ·性能测试 | 第17页 |
| ·功能测试 | 第17-18页 |
| ·电流测试 | 第18页 |
| ·嵌入式存储器的测试方法 | 第18-21页 |
| ·直接存取测试 | 第18-19页 |
| ·宏测试 | 第19-20页 |
| ·内建自测试 | 第20-21页 |
| ·各种存储器测试方法的比较 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 内建自测试 | 第22-34页 |
| ·内建自测试的简介 | 第22-23页 |
| ·内建自测试的概念 | 第22-23页 |
| ·内建自测试的结构 | 第23页 |
| ·内建自测试的测试向量生成 | 第23-29页 |
| ·穷举矢量生成 | 第24-25页 |
| ·伪穷举矢量生成 | 第25页 |
| ·伪随机矢量生成 | 第25-28页 |
| ·加权伪随机模式 | 第28-29页 |
| ·测试矢量增加 | 第29页 |
| ·BIST响应数据压缩 | 第29-33页 |
| ·奇偶测试 | 第30页 |
| ·"1"计数 | 第30-31页 |
| ·跳变次数压缩 | 第31页 |
| ·特征分析法 | 第31-33页 |
| ·本章小节 | 第33-34页 |
| 第四章 RAMBIST算法研究 | 第34-43页 |
| ·MSCAN测试 | 第34页 |
| ·GALPAT算法 | 第34-36页 |
| ·算法型测试序列 | 第36页 |
| ·CHECKERBOARD测试 | 第36-37页 |
| ·MARCH测试 | 第37-41页 |
| ·MATS算法测试 | 第37-38页 |
| ·March元素的符号表达 | 第38-39页 |
| ·March C+算法 | 第39-41页 |
| ·测试算法的有效性 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 体系结构设计分析与仿真验证 | 第43-60页 |
| ·数字系统设计 | 第43-46页 |
| ·硬件描述语言 | 第43-44页 |
| ·自顶向下设计方法与设计流程 | 第44-46页 |
| ·RAM BIST的电路体系结构 | 第46-47页 |
| ·各部分模块具体实现方案 | 第47-52页 |
| ·BIST控制器 | 第47-48页 |
| ·地址步进器 | 第48-49页 |
| ·测试数据产生 | 第49-50页 |
| ·比较器 | 第50-51页 |
| ·RAMBIST实际电路结构 | 第51-52页 |
| ·RAM BIST电路的仿真验证 | 第52-57页 |
| ·电路的仿真验证的主要流程 | 第52-53页 |
| ·RAMBIST电路的仿真结果 | 第53-57页 |
| ·RAMBIST版图设计 | 第57-59页 |
| ·数字后端版图设计流程 | 第57-58页 |
| ·RAMBIST版图设计 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
| ·总结 | 第60页 |
| ·展望 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和参加科研情况 | 第66-67页 |
