光电流谱虚拟测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第一章 研究背景 | 第13-21页 |
| ·国内光电化学测试仪器现状 | 第14页 |
| ·化学测试仪器的特点 | 第14-15页 |
| ·本文工作的意义 | 第15-16页 |
| ·理论意义 | 第15-16页 |
| ·现实意义 | 第16页 |
| ·本文涉及化学方面的主要原理与依据 | 第16-18页 |
| ·光电化学的主要原理 | 第16-17页 |
| ·阴极腐蚀的主要原理 | 第17-18页 |
| ·光电流谱测量 | 第18页 |
| ·系统测试的主要原理 | 第18-19页 |
| ·本文主要工作以及研究的内容 | 第19-21页 |
| 第二章 GPIB 总线与 VISA | 第21-28页 |
| ·GPIB 的硬件接口 | 第21-24页 |
| ·GPIB 的硬件组成 | 第21-22页 |
| ·GPIB 的挂钩总线 | 第22-24页 |
| ·GPIB 通讯协议 | 第24-26页 |
| ·IEEE-488 标准 | 第24-25页 |
| ·IEEE-488.2 标准 | 第25-26页 |
| ·VISA | 第26-28页 |
| ·VISA 消息通讯 | 第26-27页 |
| ·VISA 属性 | 第27页 |
| ·VISA 事件 | 第27-28页 |
| 第三章 ATS 体系结构研究 | 第28-36页 |
| ·自动测试系统介绍 | 第28-30页 |
| ·自动测试系统的结构和特点 | 第28-29页 |
| ·本文自动测试系统的特点 | 第29-30页 |
| ·ATS 任务模块划分 | 第30-31页 |
| ·系统测试仪器互换性技术 | 第31-36页 |
| ·测试系统的 IVI 结构 | 第31-33页 |
| ·IVI 驱动程序的性能特征 | 第33-34页 |
| ·基于COM 组件技术的IVI－MSS 模型实现 | 第34-36页 |
| 第四章 仪器与工作原理 | 第36-44页 |
| ·光电流谱测量系统整体结构 | 第36-38页 |
| ·SBP300 三光栅光谱仪 | 第38-39页 |
| ·光栅光谱仪的原理 | 第38页 |
| ·SBP300 光谱仪主要指标 | 第38-39页 |
| ·263A 精密恒电位电流仪 | 第39-41页 |
| ·263A 精密恒电位电流仪的原理 | 第39页 |
| ·263A 恒电位仪基本性能和设计指标 | 第39-41页 |
| ·锁相放大器微弱信号检测原理 | 第41-44页 |
| 第五章 系统开发研究 | 第44-51页 |
| ·系统需求分析 | 第44-45页 |
| ·软件体系结构 | 第45-47页 |
| ·软件分层设计 | 第45-46页 |
| ·系统主要业务层设计 | 第46-47页 |
| ·系统测试 | 第47-51页 |
| ·数据驱动测试DDT | 第47-48页 |
| ·本系统选用DDT 测试方法的理由 | 第48-49页 |
| ·系统的测试实现 | 第49-51页 |
| 第六章 系统评价 | 第51-64页 |
| ·系统的实施 | 第51-54页 |
| ·环境要求 | 第51页 |
| ·测试平台搭建 | 第51-53页 |
| ·仪器操作事项 | 第53-54页 |
| ·测试材料的制备 | 第54-58页 |
| ·TiO_2 纳米管阵列的制备与表征 | 第54-56页 |
| ·TiO_2 纳米管电学性质的测试 | 第56-57页 |
| ·TiO_2 纳米管光致发光性能的测试 | 第57-58页 |
| ·实验结果 | 第58-64页 |
| ·实验步骤 | 第58-61页 |
| ·实验数据 | 第61-63页 |
| ·使用情况调查 | 第63-64页 |
| 总结与展望 | 第64-66页 |
| 1. 全文总结 | 第64-65页 |
| 2. 工作展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
