用于ICF光学系统静态波前畸变校正的相位板研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 绪论 | 第8-11页 |
| 第一章 连续面形位相校正板的灰度掩模设计 | 第11-23页 |
| ·ICF光学系统静态波前畸变的表述 | 第11-13页 |
| ·ICF静态波前畸变校正板的设计原理 | 第13-14页 |
| ·调频调幅随机点阵分布编码的灰度掩模方法 | 第14-22页 |
| ·灰度掩模及其编码原理 | 第14-19页 |
| ·调频调幅随机点阵分布编码 | 第19-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第二章 灰度掩模深层抗蚀剂的光刻特性 | 第23-31页 |
| ·深层抗蚀剂的光刻特性 | 第23-29页 |
| ·影响深层抗蚀剂光刻过程的因素 | 第23-24页 |
| ·抗蚀剂的A、B、C参数 | 第24-26页 |
| ·Dill模型A、B、C参数的测定 | 第26-28页 |
| ·灰度掩模线性调制曝光强度的修正 | 第28-29页 |
| ·深层光刻灰度掩模的设计结果 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第三章 连续浮雕结构位相校正板的ICP刻蚀技术 | 第31-47页 |
| ·微浮雕结构传递技术手段及其特点 | 第31-32页 |
| ·ICP技术的刻蚀特性 | 第32-35页 |
| ·RIE刻蚀原理 | 第32-33页 |
| ·ICP刻蚀原理 | 第33-35页 |
| ·影响浮雕结构ICP刻蚀的重要工艺参数 | 第35页 |
| ·ICP深刻蚀单元工艺技术研究 | 第35-40页 |
| ·连续面形静态波前校正板研究结果 | 第40-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第四章 总结 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-51页 |
| 发表的文章、专利及参加课题情况 | 第51-52页 |