| 1 绪论 | 第1-16页 |
| ·课题背景 | 第10-11页 |
| ·本文研究目的 | 第11-12页 |
| ·斜波发生电路的工作原理及其技术指标 | 第12-14页 |
| ·斜波发生电路的引脚功能 | 第12页 |
| ·电路功能框图和波形图 | 第12-14页 |
| ·电路功能框图 | 第12-13页 |
| ·电路波形图 | 第13-14页 |
| ·电特性 | 第14页 |
| ·定义 | 第14页 |
| ·电路的电特性 | 第14页 |
| ·本文的主要工作 | 第14-16页 |
| 2 虚拟仪器 | 第16-21页 |
| ·虚拟仪器的概念 | 第16-17页 |
| ·虚拟仪器的发展及其特点 | 第17-18页 |
| ·仪器的发展过程 | 第17页 |
| ·虚拟仪器的特点 | 第17-18页 |
| ·虚拟仪器技术的优势 | 第18-19页 |
| ·虚拟仪器的现状 | 第19-20页 |
| ·虚拟仪器的展望 | 第20-21页 |
| 3 测试系统的硬件构建 | 第21-36页 |
| ·虚拟仪器的硬件构成简介 | 第21-25页 |
| ·虚拟仪器的硬件平台 | 第21-22页 |
| ·几种仪器平台的比较 | 第22页 |
| ·斜波发生电路所采用的仪器 | 第22-25页 |
| ·基于 PCI总线的仪器模块 | 第23-24页 |
| ·基于 GPIB的程控仪器 | 第24-25页 |
| ·斜波发生电路测试原理 | 第25-26页 |
| ·虚拟仪器的硬件构成 | 第26-28页 |
| ·测试系统各仪器及接口卡性能简介 | 第28-36页 |
| ·任意波形发生卡(PCI-5411) | 第28-31页 |
| ·主要性能特点 | 第28-29页 |
| ·PCI-5411的波形发生方式 | 第29页 |
| ·PCI-5411的连接端子 | 第29-30页 |
| ·PCI-5411的安装 | 第30-31页 |
| ·双通道示波器卡(PCI-5112) | 第31-32页 |
| ·主要性能特点 | 第31-32页 |
| ·PCI-5112的硬件结构 | 第32页 |
| ·PCI-5112的连接端子 | 第32页 |
| ·5位半万用表卡(PCI-4060) | 第32-34页 |
| ·主要性能特点 | 第32-33页 |
| ·基本工作原理 | 第33-34页 |
| ·数字I/O卡(PCI-6503) | 第34-35页 |
| ·主要性能特点 | 第34-35页 |
| ·接口示意图及各管脚功能 | 第35页 |
| ·仪器控制卡(PCI-GPIB) | 第35页 |
| ·程控电源(E3469A) | 第35-36页 |
| 4 仪器模块的软件设计 | 第36-53页 |
| ·概述 | 第36页 |
| ·虚拟仪器的软件标准 | 第36-40页 |
| ·SCPI命令 | 第37页 |
| ·VISA | 第37-38页 |
| ·VPP仪器驱动器 | 第38-39页 |
| ·IVI仪器驱动器 | 第39-40页 |
| ·IVI简介 | 第39-40页 |
| ·IVI特点 | 第40页 |
| ·虚拟仪器的软件开发环境 | 第40-42页 |
| ·概述 | 第40-41页 |
| ·LabVIEW开发工具简介 | 第41-42页 |
| ·LabVIEW开发环境下的仪器驱动程序 | 第42-45页 |
| ·简介 | 第42-43页 |
| ·VPP和IVI仪器驱动 | 第43-45页 |
| ·基于 PCI总线仪器模块的编程 | 第45-50页 |
| ·5位半万用表卡(PCI-4060) | 第45-48页 |
| ·仪器模块的通用程序流程 | 第45-47页 |
| ·万用表卡(PCI-4060)程序 | 第47-48页 |
| ·双通道示波器卡(PCI-5122) | 第48-49页 |
| ·任意波形发生卡(PCI-5411) | 第49-50页 |
| ·数字I/O卡(PCI-6503) | 第50页 |
| ·基于GPIB总线仪器的编程 | 第50-53页 |
| 5 虚拟仪器的软件设计 | 第53-79页 |
| ·测试系统需要测量的参数及测试方法 | 第53-70页 |
| ·测试状态的控制 | 第53-54页 |
| ·斜波重复频率、隔行扫描电压及隔行扫描频率参数测试 | 第54-56页 |
| ·斜波线性度及斜波电压测试 | 第56-66页 |
| ·线性度的定义及计算 | 第56-59页 |
| ·斜波线性度及斜波电压测试 | 第59-60页 |
| ·斜波线性度及斜波电压测试程序流程图 | 第60-66页 |
| ·静态功耗测试 | 第66-70页 |
| ·程序调试 | 第70-75页 |
| ·LabVIEW的调试技术 | 第70-73页 |
| ·发现错误 | 第70页 |
| ·加亮执行 | 第70-71页 |
| ·单步通过 VI及其子 VI | 第71-72页 |
| ·断点与探针 | 第72-73页 |
| ·斜波发生电路程序调试小结 | 第73-75页 |
| ·斜波发生电路测试系统实际使用结果 | 第75-77页 |
| ·虚拟仪器设计的一般流程 | 第77-79页 |
| 结论 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-82页 |