软磁材料矫顽力自动测试控制电路与系统软件的设计与实现
| 第一章 绪论 | 第1-15页 |
| ·磁性材料知识简介 | 第7-9页 |
| ·软磁材料和矫顽力 | 第7-8页 |
| ·磁性测量 | 第8-9页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第9页 |
| ·矫顽力测量国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·国际发展现状 | 第9页 |
| ·国内发展现状 | 第9-10页 |
| ·软磁材料矫顽力测量原理 | 第10-11页 |
| ·问题的引出 | 第11-12页 |
| ·自动测试控制电路设计方法 | 第12-13页 |
| ·设计原理 | 第12页 |
| ·测试控制电路的工作流程 | 第12-13页 |
| ·设计需求和技术指标 | 第13-15页 |
| 第二章 测试控制电路设计 | 第15-37页 |
| ·测试控制电路概述 | 第15页 |
| ·硬件需求分析 | 第15-17页 |
| ·电路核心 | 第15-16页 |
| ·硬件输入输出 | 第16-17页 |
| ·硬件资源分配 | 第17-18页 |
| ·单片机内存规划 | 第17-18页 |
| ·单片机I/O资源规划 | 第18页 |
| ·键盘控制及显示部分电路 | 第18-23页 |
| ·8279器件简介 | 第19页 |
| ·8279电路工作原理 | 第19-23页 |
| ·信号采集部分电路设计 | 第23-28页 |
| ·A/D转换器的种类 | 第23页 |
| ·A/D转换器主要技术指标 | 第23页 |
| ·A/D转换器选型 | 第23-25页 |
| ·ICL7135外部电路连接与元件参数选择 | 第25-27页 |
| ·ICL7135通过8155与单片机的硬件接口 | 第27-28页 |
| ·数模转换部分电路设计 | 第28-32页 |
| ·D/A转换器基本原理和分类 | 第28-29页 |
| ·D/A转换器主要技术指标 | 第29-30页 |
| ·D/A转换器选型 | 第30-32页 |
| ·串行通讯部分电路设计 | 第32-33页 |
| ·实验数据存储电路设计 | 第33-37页 |
| ·I~2C总线介绍 | 第33-36页 |
| ·数据存储电路 | 第36-37页 |
| 第三章 系统软件设计 | 第37-46页 |
| ·系统软件概述 | 第37页 |
| ·系统监控程序设计 | 第37-39页 |
| ·监控程序概述 | 第37页 |
| ·监控程序结构 | 第37-39页 |
| ·测量控制程序设计 | 第39-40页 |
| ·数据采集，数据处理程序设计 | 第40-42页 |
| ·与上位机通讯程序设计 | 第42-43页 |
| ·其他功能程序 | 第43-46页 |
| 第四章 电路实现过程中的问题及解决方案 | 第46-56页 |
| ·中断源的安排问题 | 第46-47页 |
| ·键盘扫描中断和A/D采集中断的冲突 | 第46-47页 |
| ·串行中断与过零检测中断的冲突 | 第47页 |
| ·微机系统的抗干扰问题 | 第47-52页 |
| ·抗干扰硬件措施 | 第48-50页 |
| ·开关量输出的软件抗干扰措施 | 第50页 |
| ·CPU抗干扰技术 | 第50-52页 |
| ·微机系统恢复 | 第52页 |
| ·容错设计 | 第52-56页 |
| ·A/D通道的诊断与校正 | 第53页 |
| ·人机界面容错设计 | 第53-56页 |
| 第五章 实验结果与不确定度分析 | 第56-58页 |
| ·实验测量结果 | 第56页 |
| ·不确定度分析 | 第56-58页 |
| ·误差来源 | 第56-57页 |
| ·系统不确定度估计 | 第57-58页 |
| 第六章 总结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 硕士在读期间参与的科研工作、发表论文及学术活动 | 第61-62页 |
| 附录 | 第62-63页 |
| 附录1: 矫顽力自动测试控制硬件电路实物 | 第62-63页 |
| 附录2: 试验样机实物图 | 第63页 |
