| 第一章 绪论 | 第1-22页 |
| 1．1 合成孔径雷达的历史和发展 | 第8-10页 |
| 1．2 航天系统中可靠性的意义 | 第10-16页 |
| 1．2．1 系统可靠性意义 | 第10-12页 |
| 1．2．2 高可靠性系统构造方法 | 第12-14页 |
| 1．2．3 系统可靠性评测方法 | 第14-16页 |
| 1．3 国内外故障注入研究概况 | 第16-20页 |
| 1．3．1 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1．3．2 故障注入分类方法 | 第18-19页 |
| 1．3．3 故障注入应用 | 第19-20页 |
| 1．4 本文主要做的工作 | 第20页 |
| 1．5 本文的主要贡献 | 第20-22页 |
| 第二章 故障注入技术研究 | 第22-34页 |
| 2．1 故障的分类 | 第22页 |
| 2．2 故障注入模型 | 第22-24页 |
| 2．3 故障注入的属性 | 第24-25页 |
| 2．4 故障注入环境 | 第25-26页 |
| 2．5 常用故障注入技术 | 第26-33页 |
| 2．5．1 基于硬件的故障注入方法 | 第27-29页 |
| 2．5．2 基于软件的故障注入方法 | 第29-33页 |
| 2．6 星载SAR软件控制系统中采用的故障注入系统 | 第33页 |
| 2．7 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 单粒子事件与故障注入的研究 | 第34-45页 |
| 3．1 单粒子事件的故障模型 | 第35-40页 |
| 3．1．1 单粒子效应 | 第35-36页 |
| 3．1．2 RAM的故障模型分析 | 第36-38页 |
| 3．1．2．1 RAM的基本结构 | 第36页 |
| 3．1．2．2 RAM的故障表现 | 第36-37页 |
| 3．1．2．3 RAM的故障模型 | 第37-38页 |
| 3．1．3 单粒子事件故障的模型 | 第38-40页 |
| 3．2 单粒子事件故障注入模型 | 第40-44页 |
| 3．2．1 FARM模型 | 第40页 |
| 3．2．2 单粒子故障注入的模型 | 第40-44页 |
| 3．3 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 故障注入器的设计方法和实验结果 | 第45-63页 |
| 4．1 非屏蔽中断法 | 第46-53页 |
| 4．1．1 PFI故障注入目标板 | 第47-51页 |
| 4．1．1．1 DS80C20芯片简介 | 第48-50页 |
| 4．1．1．2 单片机和锁存器以及ROM/RAM连接方式 | 第50-51页 |
| 4．1．1．3 PFI中断介绍 | 第51页 |
| 4．1．1．4 PFI中断故障注入 | 第51页 |
| 4．1．2 仿真器 | 第51-52页 |
| 4．1．3 宿主机 | 第52页 |
| 4．1．4 实验结果以及分析 | 第52-53页 |
| 4．2 外部中断法 | 第53-62页 |
| 4．2．1 外部中断故障注入目标板 | 第53-54页 |
| 4．2．2 wave仿真器 | 第54-55页 |
| 4．2．3 宿主机 | 第55页 |
| 4．2．4 实验结果和结果分析 | 第55-62页 |
| 4．3 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |