| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| ·引言 | 第11页 |
| ·半导体测试的工艺流程 | 第11-12页 |
| ·本文调度问题的背景及意义 | 第12-13页 |
| ·批处理机调度问题的关键问题 | 第13页 |
| ·批处理机调度问题的分类 | 第13-14页 |
| ·本文的研究内容安排 | 第14-16页 |
| 第2章 批处理机调度问题的研究方法 | 第16-26页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·车间调度问题的数学描述 | 第16-17页 |
| ·工件分批的启发式方法 | 第17-19页 |
| ·动态规划方法 | 第17-18页 |
| ·最优化分批方法 | 第18-19页 |
| ·批处理机调度算法研究 | 第19-25页 |
| ·最优化算法 | 第19-20页 |
| ·启发式算法 | 第20页 |
| ·遗传算法 | 第20-22页 |
| ·模拟退火算法 | 第22-23页 |
| ·变邻域搜索算法 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 单批处理机在工件动态到达情况下调度问题的研究 | 第26-39页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·基于工件动态到达的单批处理机调度问题 | 第26-28页 |
| ·问题描述 | 第26-28页 |
| ·目标函数 | 第28页 |
| ·基于汉明距离的变邻域搜索算法的设计 | 第28-31页 |
| ·调度方案的表示方法 | 第29页 |
| ·分批规则 | 第29-30页 |
| ·初始解 | 第30页 |
| ·邻域结构集 | 第30-31页 |
| ·局部搜索和停止准侧 | 第31页 |
| ·遗传算法的设计 | 第31-32页 |
| ·仿真实验 | 第32-38页 |
| ·参数选取 | 第32-33页 |
| ·实验结果 | 第33-37页 |
| ·结果分析 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 基于E/T模型的平行式批处理机调度问题的研究 | 第39-52页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·问题描述 | 第40-42页 |
| ·解决平行批处理机调度问题的算法设计 | 第42-44页 |
| ·初始解的产生 | 第42-44页 |
| ·分批调度策略 | 第44页 |
| ·仿真实验 | 第44-50页 |
| ·参数选取 | 第45页 |
| ·实验结果 | 第45-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 本论文研究内容和相关结论 | 第52页 |
| 本论文可能的创新性成果 | 第52-53页 |
| 本论文预期展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 附录A | 第59-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第63页 |