摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-20页 |
1.1 研究目的及意义 | 第10-12页 |
1.2 研究背景及现状 | 第12-16页 |
1.2.1 荧光磁粉探伤技术的产生及发展 | 第12-14页 |
1.2.2 基于机器视觉的荧光磁粉探伤系统研究的背景及现状 | 第14-16页 |
1.3 机器视觉关键技术 | 第16-18页 |
1.4 论文研究内容及组织结构 | 第18-19页 |
1.5 本章小结 | 第19-20页 |
第2章 系统整体方案及可行性分析 | 第20-28页 |
2.1 系统整体方案简介 | 第20-21页 |
2.2 系统整体方案设计及检测原理 | 第21-25页 |
2.2.1 系统整体方案设计 | 第21-22页 |
2.2.2 系统检测原理 | 第22-25页 |
2.3 方案可行性分析 | 第25-27页 |
2.4 本章小结 | 第27-28页 |
第3章 系统硬件设计及实现 | 第28-48页 |
3.1 系统硬件整体设计简介 | 第28-29页 |
3.2 系统硬件选型 | 第29-46页 |
3.2.1 紫外灯光源选型 | 第29-36页 |
3.2.2 滤光镜片选型 | 第36-38页 |
3.2.3 工业相机及光学镜头选型 | 第38-43页 |
3.2.4 三维云台及安装支架设计 | 第43-45页 |
3.2.5 工业计算机选型 | 第45-46页 |
3.3 系统硬件整体实现 | 第46-47页 |
3.4 本章小结 | 第47-48页 |
第4章 系统软件设计及实现 | 第48-68页 |
4.1 系统软件整体设计 | 第48-49页 |
4.2 系统开发平台 | 第49-50页 |
4.3 系统软件模块的设计与实现 | 第50-63页 |
4.3.1 图像采集模块的设计与实现 | 第50-51页 |
4.3.2 图像处理模块的设计与实现 | 第51-57页 |
4.3.3 数据计算模块的设计与实现 | 第57-63页 |
4.4 系统软件实现 | 第63-67页 |
4.5 本章小结 | 第67-68页 |
第5章 系统测试及影响因素分析 | 第68-80页 |
5.1 系统测试安装 | 第68-69页 |
5.2 系统测试实验 | 第69-72页 |
5.2.1 不同进光量测试实验 | 第69-70页 |
5.2.2 不同类型缺陷测试实验 | 第70-71页 |
5.2.3 系统漏检率/误检率和运行时间测试实验 | 第71-72页 |
5.3 系统测试结果分析 | 第72-78页 |
5.3.1 不同进光量测试实验结果分析 | 第72-75页 |
5.3.2 不同类型缺陷测试实验结果分析 | 第75-77页 |
5.3.3 系统漏检率/误检率和运行时间测试实验结果分析 | 第77-78页 |
5.4 系统影响因素分析 | 第78-79页 |
5.4.1 荧光磁粉因素分析 | 第78-79页 |
5.4.2 待测工件刀纹因素分析 | 第79页 |
5.4.3 光照物质因素分析 | 第79页 |
5.5 本章小结 | 第79-80页 |
第6章 总结与展望 | 第80-82页 |
参考文献 | 第82-86页 |
攻读学位期间成果和完成工作 | 第86-88页 |
致谢 | 第88页 |