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IGCT电路模型与驱动电路关键技术的研究

摘要第3-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第10-20页
    1.1 IGCT发展及现状第10-13页
    1.2 IGCT电路模型的研究意义与现状第13-15页
        1.2.1 IGCT电路模型的研究意义第13-14页
        1.2.2 IGCT电路模型的研究现状第14-15页
    1.3 IGCT驱动电路的研究意义与现状第15-17页
        1.3.1 IGCT驱动电路的研究意义第15页
        1.3.2 IGCT驱动电路的研究现状第15-17页
    1.4 本文的主要研究内容第17-20页
2 IGCT硬驱动电路仿真模型建模与验证第20-44页
    2.1 IGCT结构与工作原理分析第20-24页
        2.1.1 GCT管芯结构和双晶体管等效模型第20-22页
        2.1.2 IGCT内部换流机理、开关特性和门极特性第22-24页
    2.2 IGCT硬驱动电路仿真模型建模第24-26页
        2.2.1 IGCT单元电路模型第25页
        2.2.2 IGCT硬驱动电路仿真模型第25-26页
    2.3 模型关键参数提取方法第26-31页
        2.3.1 MOSFET特性参数第26-28页
        2.3.2 双极晶体管特性参数第28-29页
        2.3.3 电阻值第29-30页
        2.3.4 J2 结势垒电容值第30页
        2.3.5 分布参数值第30-31页
    2.4 4500 V电压等级IGCT硬驱动电路仿真模型测试分析第31-37页
        2.4.1 4500 V/2500A IGCT电路模型特性测试分析第31-35页
        2.4.2 4500 V/4000A/3300A IGCT电路模型特性测试分析第35-37页
    2.5 Dual-GCT硬驱动电路仿真模型建模和测试分析第37-41页
        2.5.1 Dual-GCT电路仿真模型建模及关键参数提取第38页
        2.5.2 Dual-GCT电路仿真模型动态测试与分析第38-41页
    2.6 基于SiC MOSFET的 IGCT电路仿真模型建模和测试分析第41-43页
    2.7 本章小结第43-44页
3 IGCT关断回路优化和杂散电感的分析第44-64页
    3.1 IGCT关断箝位电路的工作状态及电路参数的优化第44-48页
        3.1.1 传统箝位电路传统参数计算第44-45页
        3.1.2 箝位电路优化参数优化第45-48页
    3.2 IGCT关断回路杂散电感控制因素和测量第48-58页
        3.2.1 关断回路PCB杂散电感控制因素第49-50页
        3.2.2 不同杂散电感对关断性能影响的仿真验证第50-53页
        3.2.3 杂散电感的实验验证第53-58页
    3.3 关断电路杂散电感的测量第58-62页
        3.3.1 杂散电感的计算第58-60页
        3.3.2 杂散电感的测量第60-62页
    3.4 本章小结第62-64页
4 IGCT主驱动电路工作原理和设计第64-74页
    4.1 主驱动电路的工作原理及关键问题第64-65页
        4.1.1 主驱动电路的工作原理第64-65页
        4.1.2 主驱动电路需要解决的关键问题第65页
    4.2 主驱动电路设计与仿真第65-73页
        4.2.1 主驱动电路技术指标第65-66页
        4.2.2 主驱动电路设计第66-69页
        4.2.3 主驱动电路仿真第69-73页
    4.3 本章小结第73-74页
5 IGCT逻辑监测模块的研究和整体驱动电路的实现第74-84页
    5.1 IGCT驱动电路的工作原理第74-75页
    5.2 IGCT逻辑控制模块第75-76页
        5.2.1 光纤驱动模块第75-76页
        5.2.2 驱动器主电路的逻辑控制模块第76页
    5.3 IGCT检测模块和反馈系统模块第76-80页
        5.3.1 门阴极电压检测模块第76-78页
        5.3.2 IGCT外部重触发的研究第78-80页
        5.3.3 反馈系统模块第80页
    5.4 IGCT整体驱动电路的实现第80-83页
        5.4.1 驱动电路原理图第80-81页
        5.4.2 驱动电路的版图设计第81-83页
    5.5 本章小结第83-84页
6 IGCT驱动电路性能测试和分析第84-94页
    6.1 驱动电路阳极低电压测试第84-88页
        6.1.1 实验测试平台第84-85页
        6.1.2 主驱动电路实验验证第85-87页
        6.1.3 监测电路实验验证第87-88页
    6.2 驱动电路一次脉冲开关实验验证第88-89页
    6.3 驱动电路二次脉冲开关实验验证第89-93页
        6.3.1 二次脉冲测试原理第89-91页
        6.3.2 关断波形分析第91-92页
        6.3.3 开通波形分析第92-93页
    6.4 本章小结第93-94页
7 结束语第94-97页
    7.1 主要结论第94-95页
    7.2 论文创新点第95页
    7.3 今后研究的工作设想第95-97页
致谢第97-98页
参考文献第98-108页
攻读博士学位期间成果第108页

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