高频CMOS数字锁相环关键技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 研究背景与研究意义 | 第16-17页 |
| 1.2 研究进展 | 第17-19页 |
| 1.3 论文的主要工作和创新点 | 第19页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第19-22页 |
| 第二章 锁相环基础 | 第22-34页 |
| 2.1 常见锁相环 | 第22-27页 |
| 2.1.1 锁相环分类 | 第22-26页 |
| 2.1.2 数字锁相环与模拟锁相环的比较 | 第26-27页 |
| 2.2 数字锁相环实现原理 | 第27-29页 |
| 2.2.1 I型数字锁相环 | 第27-28页 |
| 2.2.2 II型数字锁相环 | 第28-29页 |
| 2.3 数字锁相环主要性能指标 | 第29-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 数字锁相环结构和环路分析 | 第34-48页 |
| 3.1 数字锁相环整体结构 | 第34-36页 |
| 3.2 模型分析 | 第36-42页 |
| 3.2.1 数学模型 | 第36-38页 |
| 3.2.2 噪声模型 | 第38-42页 |
| 3.2.3 行为级模型 | 第42页 |
| 3.3 环路分析 | 第42-46页 |
| 3.3.1 环路特性分析 | 第42-44页 |
| 3.3.2 稳定性分析 | 第44-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 数字锁相环电路模块研究 | 第48-72页 |
| 4.1 亚采样鉴相器 | 第48-54页 |
| 4.1.1 亚采样鉴相器工作原理 | 第48-52页 |
| 4.1.2 亚采样电路实现 | 第52-54页 |
| 4.2 差分电荷泵 | 第54-56页 |
| 4.2.1 电荷泵基本结构 | 第54页 |
| 4.2.2 电荷泵非理想效应 | 第54-55页 |
| 4.2.3 差分电荷泵电路实现 | 第55-56页 |
| 4.3 脉冲产生电路和SAR-ADC | 第56-59页 |
| 4.3.1 逐次逼近型模数转换器 | 第56-57页 |
| 4.3.2 脉冲产生电路和SAR-ADC实现 | 第57-59页 |
| 4.4 数字环路滤波器 | 第59-63页 |
| 4.4.1 IIR滤波器 | 第59-60页 |
| 4.4.2 数字滤波器实现 | 第60-63页 |
| 4.5 高速计数器 | 第63-64页 |
| 4.6 数控振荡器 | 第64-72页 |
| 4.6.1 振荡器性能指标 | 第64-65页 |
| 4.6.2 数控振荡器工作原理 | 第65-66页 |
| 4.6.3 数控振荡器实现 | 第66-72页 |
| 第五章 数字锁相环版图设计及仿真 | 第72-80页 |
| 5.1 数字IC设计流程 | 第72-74页 |
| 5.1.2 前端设计 | 第73页 |
| 5.1.3 后端设计 | 第73-74页 |
| 5.2 数字锁相环版图设计 | 第74-75页 |
| 5.3 仿真结果 | 第75-79页 |
| 5.3.1 数控振荡器仿真 | 第75-76页 |
| 5.3.2 环路仿真 | 第76-78页 |
| 5.3.3 噪声仿真与功耗 | 第78-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 论文总结 | 第80页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 作者简介 | 第88-89页 |
