| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第10-13页 |
| 1.2.1 故障诊断技术发展 | 第10-12页 |
| 1.2.2 电子电路的故障诊断技术分析 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 基于多维特征的故障诊断算法研究 | 第15-32页 |
| 2.1 基于多维特征的故障诊断理论概述 | 第15-16页 |
| 2.2 多维特征的构造 | 第16-21页 |
| 2.2.1 时域故障特征构造 | 第16-18页 |
| 2.2.2 频域故障特征构造 | 第18-20页 |
| 2.2.3 统计故障特征构造 | 第20-21页 |
| 2.3 多维特征的融合降维处理 | 第21-26页 |
| 2.3.1 主成分原理分析及算法改进 | 第21-24页 |
| 2.3.2 主成分分析模型的建立及实现 | 第24-26页 |
| 2.4 容差分析 | 第26-28页 |
| 2.4.1 蒙特卡洛容差分析原理 | 第26-28页 |
| 2.4.2 蒙特卡洛容差分析PSpice实现 | 第28页 |
| 2.5 故障-特征依赖矩阵的建立 | 第28-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 典型电子电路故障诊断算法设计 | 第32-49页 |
| 3.1 放大滤波电路 | 第32-44页 |
| 3.1.1 原理和故障特性分析 | 第32-35页 |
| 3.1.2 多维特征提取 | 第35-39页 |
| 3.1.3 多维特征融合降维 | 第39-41页 |
| 3.1.4 容差分析及故障-特征依赖矩阵的建立 | 第41-44页 |
| 3.1.5 仿真验证 | 第44页 |
| 3.2 多谐振荡电路 | 第44-48页 |
| 3.2.1 原理和故障特性分析 | 第44-46页 |
| 3.2.2 多维特征提取 | 第46-47页 |
| 3.2.3 故障依赖矩阵建立 | 第47-48页 |
| 3.2.4 仿真验证 | 第48页 |
| 3.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 典型电子电路故障诊断系统的设计 | 第49-63页 |
| 4.1 总体设计方案 | 第49-51页 |
| 4.2 上位机软件设计及实现 | 第51-59页 |
| 4.2.1 WPF概述 | 第51-52页 |
| 4.2.2 上位机设计方案 | 第52-53页 |
| 4.2.3 系统级界面设计及实现 | 第53-55页 |
| 4.2.4 模块子界面设计及实现 | 第55-59页 |
| 4.3 下位机设计及实现 | 第59-62页 |
| 4.3.1 下位机总体方案设计 | 第59-60页 |
| 4.3.2 通信模块 | 第60-61页 |
| 4.3.3 命令解析及测试激励生成模块 | 第61页 |
| 4.3.4 测试响应与输出数据回收模块 | 第61-62页 |
| 4.3.5 系统级故障诊断模块 | 第62页 |
| 4.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 电子电路典型应用系统可测性设计及故障诊断 | 第63-75页 |
| 5.1 电子电路典型应用系统系统设计方案 | 第63-64页 |
| 5.2 电子电路典型应用系统可测性设计 | 第64-65页 |
| 5.3 基于Modelica的被测电路板可测性建模与评估 | 第65-70页 |
| 5.3.1 基于Modelica的系统级可测性建模与评估 | 第66-68页 |
| 5.3.2 基于Modelica的模块级可测性建模与评估 | 第68-70页 |
| 5.4 实物验证及结果分析 | 第70-74页 |
| 5.4.1 放大滤波电路实验验证及结果分析 | 第72-73页 |
| 5.4.2 多谐振荡电路实验验证及结果分析 | 第73-74页 |
| 5.5 本章小结 | 第74-75页 |
| 结论 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
