摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
目录 | 第6-8页 |
CONTENTS | 第8-10页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
1.1 引言 | 第10页 |
1.2 传感器SoC技术现状 | 第10-12页 |
1.3 关键技术及其研究进展 | 第12-17页 |
1.3.1 电源管理与接口技术 | 第12-14页 |
1.3.2 数模转换与驱动技术 | 第14-15页 |
1.3.3 模数转换和采样技术 | 第15-17页 |
1.4 主要工作及章节安排 | 第17-20页 |
第二章 SoC芯片基本电路原理及性能要求 | 第20-44页 |
2.1 引言 | 第20页 |
2.2 电源管理与I/O接口电路 | 第20-30页 |
2.2.1 启动电路及基准电路 | 第21-25页 |
2.2.2 误差放大与频率补偿电路 | 第25-27页 |
2.2.3 I/O接口与振荡电路 | 第27-28页 |
2.2.4 性能要求 | 第28-30页 |
2.3 数模转换与驱动电路 | 第30-37页 |
2.3.1 数模转换电路 | 第31-35页 |
2.3.2 缓冲驱动电路 | 第35-36页 |
2.3.3 性能要求 | 第36-37页 |
2.4 模数转换与采样电路 | 第37-43页 |
2.4.1 采样/保持电路 | 第38-39页 |
2.4.2 逐次逼近比较电路 | 第39-43页 |
2.4.3 性能要求 | 第43页 |
2.5 本章小结 | 第43-44页 |
第三章 LDO电路与I/O电路设计与仿真分析 | 第44-72页 |
3.1 引言 | 第44页 |
3.2 总体电路架构 | 第44-45页 |
3.3 关键电路设计 | 第45-61页 |
3.3.1 基准电压与启动电路设计 | 第45-51页 |
3.3.2 误差放大与功率级电路设计 | 第51-55页 |
3.3.3 I/O接口及振荡电路设计 | 第55-61页 |
3.4 仿真结果与分析 | 第61-71页 |
3.4.1 LDO电路性能仿真 | 第61-67页 |
3.4.2 I/O接口电路性能仿真 | 第67-71页 |
3.5 本章小结 | 第71-72页 |
第四章 电压型DAC电路设计与仿真分析 | 第72-94页 |
4.1 引言 | 第72页 |
4.2 总体电路架构 | 第72-73页 |
4.3 关键电路设计 | 第73-88页 |
4.3.1 R-2R电压型DAC电路设计 | 第73-76页 |
4.3.2 rail-to-rail放大器电路设计 | 第76-85页 |
4.3.3 数字控制电路设计 | 第85-86页 |
4.3.4 上电复位电路设计 | 第86-88页 |
4.4 仿真结果与分析 | 第88-92页 |
4.5 本章小结 | 第92-94页 |
第五章 逐次逼近型ADC电路设计与仿真分析 | 第94-112页 |
5.1 引言 | 第94页 |
5.2 总体电路架构 | 第94-95页 |
5.3 关键电路设计 | 第95-108页 |
5.3.1 分段式电容DAC电路设计 | 第95-100页 |
5.3.2 预防大锁存比较电路设计 | 第100-106页 |
5.3.3 逐次逼近控制电路设计 | 第106-108页 |
5.4 仿真结果与分析 | 第108-111页 |
5.5 本章小结 | 第111-112页 |
第六章 传感器SoC版图设计及其验证 | 第112-126页 |
6.1 引言 | 第112-113页 |
6.2 传感器SoC版图设计 | 第113-117页 |
6.3 DRC/LVS设计验证 | 第117-118页 |
6.4 后仿真结果与分析 | 第118-124页 |
6.4.1 基准电压源后仿结果与分析 | 第118-120页 |
6.4.2 LDO电路后仿结果与分析 | 第120-124页 |
6.5 本章小结 | 第124-126页 |
第七章 总结与展望 | 第126-130页 |
7.1 工作总结 | 第126-127页 |
7.2 工作展望 | 第127-130页 |
参考文献 | 第130-138页 |
硕士期间发表的论文 | 第138-140页 |
致谢 | 第140页 |