| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 选题的目的和意义 | 第7-8页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第8-10页 |
| 1.3 论文的主要工作和结构安排 | 第10-13页 |
| 1.3.1 论文的主要工作 | 第10页 |
| 1.3.2 结构安排 | 第10-13页 |
| 第二章 压控振荡器原理 | 第13-29页 |
| 2.1 压控振荡器概述 | 第13页 |
| 2.2 压控振荡器的主要性能参数 | 第13-15页 |
| 2.3 压控振荡器工作原理 | 第15-20页 |
| 2.3.1 反馈振荡原理 | 第16-17页 |
| 2.3.2 负阻振荡原理 | 第17-20页 |
| 2.4 相位噪声分析 | 第20-25页 |
| 2.4.1 相位噪声基本概念 | 第21-22页 |
| 2.4.2 相位噪声模型 | 第22-25页 |
| 2.5 降低相位噪声的方法 | 第25-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-29页 |
| 第三章 基于 GaAs HBT 工艺的压控振荡器的设计与测试 | 第29-41页 |
| 3.1 电路结构的选择 | 第29页 |
| 3.2 电路结构的分析以及元器件的选取 | 第29-31页 |
| 3.2.1 差分π型反馈结构的特点 | 第30页 |
| 3.2.2 原理图分析和元器件选取 | 第30-31页 |
| 3.3 差分π型反馈压控振荡器的原理图仿真 | 第31-35页 |
| 3.3.1 仿真软件和偏置电压的选择 | 第32页 |
| 3.3.2 VCO 的瞬时仿真 | 第32-33页 |
| 3.3.3 VCO 的谐波仿真 | 第33-35页 |
| 3.3.4 VCO 的频率调谐特性仿真 | 第35页 |
| 3.4 压控振荡器的版图设计 | 第35-36页 |
| 3.5 压控振荡器的电磁仿真 | 第36-37页 |
| 3.6 压控振荡器的测试与分析 | 第37-40页 |
| 3.7 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于 GaAs HBT 工艺的锁相环的设计与测试 | 第41-51页 |
| 4.1 锁相环的结构和工作原理 | 第41-43页 |
| 4.1.1 锁相环的结构与功能 | 第41页 |
| 4.1.2 锁相环的工作原理 | 第41-43页 |
| 4.2 锁相环拓扑结构和原理图仿真 | 第43-47页 |
| 4.2.1 锁相环拓扑结构 | 第43-45页 |
| 4.2.2 锁相环原理图仿真 | 第45-47页 |
| 4.3 锁相环的版图设计 | 第47-48页 |
| 4.4 锁相环的测试与分析 | 第48-49页 |
| 4.5 本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 结束语 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 攻读硕士期间参加的科研项目和参加研究的单位 | 第59-60页 |