低维材料力电性能测试的微桥法和悬臂梁法理论模型
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 引言 | 第10-20页 |
| 1.1 低维材料弯曲试验方法的研究现状 | 第10-13页 |
| 1.1.1 悬臂梁法 | 第10-11页 |
| 1.1.2 微纳桥法 | 第11-12页 |
| 1.1.3 弯曲测试方法中存在的问题 | 第12-13页 |
| 1.2 非局部理论和应变梯度理论的研究现状 | 第13-18页 |
| 1.2.1 非局部理论 | 第14-15页 |
| 1.2.2 应变梯度理论 | 第15-16页 |
| 1.2.3 非局部和应变梯度梁板弯曲问题 | 第16-18页 |
| 1.3 本文工作概述 | 第18-20页 |
| 2 低维压电材料的弯曲测试方法 | 第20-41页 |
| 2.1 基本方程 | 第20-22页 |
| 2.2 修正简化本构关系 | 第22-24页 |
| 2.3 电边界条件的影响 | 第24-27页 |
| 2.3.1 上下表面无电极 | 第24-26页 |
| 2.3.2 上下表面有电极 | 第26-27页 |
| 2.4 悬臂梁法 | 第27-34页 |
| 2.4.1 不考虑基体变形 | 第27页 |
| 2.4.2 考虑基体变形 | 第27-30页 |
| 2.4.3 数值计算和讨论 | 第30-34页 |
| 2.5 微纳桥法 | 第34-40页 |
| 2.5.1 不考虑基体变形 | 第34-36页 |
| 2.5.2 考虑基体变形 | 第36-37页 |
| 2.5.3 数值计算和讨论 | 第37-40页 |
| 2.6 小结 | 第40-41页 |
| 3 考虑内禀尺度的微桥法 | 第41-59页 |
| 3.1 应变梯度理论 | 第41-42页 |
| 3.2 基本方程 | 第42-43页 |
| 3.3 微桥小变形解 | 第43-48页 |
| 3.3.1 全桥模型 | 第44-45页 |
| 3.3.2 等效半桥模型 | 第45-47页 |
| 3.3.3 数值计算和讨论 | 第47-48页 |
| 3.4 微桥大变形解 | 第48-58页 |
| 3.4.1 不考虑基体变形 | 第48-51页 |
| 3.4.2 数值计算 | 第51-53页 |
| 3.4.3 考虑基体变形 | 第53页 |
| 3.4.4 数据拟合 | 第53-58页 |
| 3.5 小结 | 第58-59页 |
| 4 总结与展望 | 第59-61页 |
| 4.1 结论 | 第59-60页 |
| 4.2 展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-67页 |
| 个人简历、在校期间发表的学术论文及研究成果 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
