GS/s时域交织流水线A/D转换器关键技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第13-15页 |
| 缩略语对照表 | 第15-18页 |
| 第一章 绪论 | 第18-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第18页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 本文的创新点 | 第19-20页 |
| 1.4 论文主要工作及结构安排 | 第20-22页 |
| 第二章 单通道与时域交织的工作原理 | 第22-34页 |
| 2.1 单通道流水线ADC | 第22-25页 |
| 2.2 冗余位数字校正技术（RSD） | 第25-28页 |
| 2.3 时域交织流水线ADC的基本工作原理 | 第28-29页 |
| 2.4 流水线ADC规格 | 第29-32页 |
| 2.4.1 静态性能参数 | 第29-30页 |
| 2.4.2 动态性能参数 | 第30-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 非理想效应与失配消除技术 | 第34-58页 |
| 3.1 单通道流水线ADC中的非理想效应 | 第34-44页 |
| 3.1.1 时钟馈通效应 | 第34-35页 |
| 3.1.2 电荷注入效应 | 第35-36页 |
| 3.1.3 底极板采样技术 | 第36-37页 |
| 3.1.4 开关管等效电阻的非线性效应 | 第37-38页 |
| 3.1.5 栅压自举技术 | 第38-39页 |
| 3.1.6 时钟抖动 | 第39-41页 |
| 3.1.7 余差放大器建立误差 | 第41-44页 |
| 3.2 时域交织ADC中的非理想效应 | 第44-57页 |
| 3.2.1 子通道间的失调失配分析 | 第45-48页 |
| 3.2.2 子通道间失调失配的校准 | 第48-49页 |
| 3.2.3 子通道间的增益失配分析 | 第49-51页 |
| 3.2.4 子通道间增益失配的校准 | 第51-52页 |
| 3.2.5 子通道间的采样时间失配分析 | 第52-55页 |
| 3.2.6 子通道间采样时间失配的校准 | 第55-57页 |
| 3.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 时域交织流水线ADC的物理实现 | 第58-98页 |
| 4.1 采样保持电路的物理实现 | 第58-77页 |
| 4.1.1 SHA结构 | 第58-59页 |
| 4.1.2 采样电容值的选取 | 第59-60页 |
| 4.1.3 采样保持电路实现 | 第60-61页 |
| 4.1.4 采保中运放 | 第61-72页 |
| 4.1.5 采保中的采样网络与自举开关 | 第72-76页 |
| 4.1.6 整体采保电路仿真 | 第76-77页 |
| 4.2 单通道流水线的物理实现 | 第77-90页 |
| 4.2.1 流水线中开关电容架构 | 第77-78页 |
| 4.2.2 Sub-ADC | 第78-80页 |
| 4.2.3 预放大器 | 第80页 |
| 4.2.4 Latch | 第80-82页 |
| 4.2.5 余差放大器 | 第82-86页 |
| 4.2.6 整体电路结构 | 第86-89页 |
| 4.2.7 单通道流水线仿真结果 | 第89-90页 |
| 4.3 时域交织与采样时间校准电路 | 第90-92页 |
| 4.4 交织仿真结果 | 第92-93页 |
| 4.5 版图绘制 | 第93-95页 |
| 4.6 后仿真结果 | 第95-96页 |
| 4.7 性能比较 | 第96-97页 |
| 4.8 本章小结 | 第97-98页 |
| 第五章 总结与展望 | 第98-100页 |
| 5.1 研究总结 | 第98页 |
| 5.2 研究展望 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-104页 |
| 致谢 | 第104-106页 |
| 作者简介 | 第106-107页 |
