| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题来源及理论背景 | 第10-13页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.1.2 连接硬件的测试 | 第10-11页 |
| 1.1.3 自动测试系统 | 第11-13页 |
| 1.2 本论文研究的主要内容 | 第13页 |
| 1.3 本章小结 | 第13-14页 |
| 第二章 结构化综合布线系统 | 第14-20页 |
| 2.1 结构化综合布线系统组成 | 第14-15页 |
| 2.1.1 传输介质 | 第14页 |
| 2.1.2 连接硬件 | 第14-15页 |
| 2.2 综合布线系统传输性能主要参数 | 第15-17页 |
| 2.3 结构化综合布线系统标准简介 | 第17-19页 |
| 2.3.1 结构化综合布线国际组织和标准 | 第17-18页 |
| 2.3.2 我国的结构化综合布线系统标准 | 第18-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 测试系统的仪器总线技术 | 第20-27页 |
| 3.1 测试系统常见仪器总线技术 | 第20-23页 |
| 3.1.1 GPIB 总线技术 | 第20页 |
| 3.1.2 VXI 总线技术 | 第20-21页 |
| 3.1.3 PXI 总线技术 | 第21-22页 |
| 3.1.4 LXI 总线技术 | 第22页 |
| 3.1.5 各种仪器总线的比较 | 第22-23页 |
| 3.2 GPIB 总线技术 | 第23-26页 |
| 3.2.1 GPIB 标准的发展 | 第23-24页 |
| 3.2.2 GPIB 接口的基本特征 | 第24-25页 |
| 3.2.3. GPIB 的接口功能 | 第25-26页 |
| 3.2.4 GPIB 仪器系统 | 第26页 |
| 3.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第四章 虚拟仪器技术 | 第27-45页 |
| 4.1 虚拟仪器的发展 | 第27-29页 |
| 4.2 虚拟仪器的特点 | 第29-30页 |
| 4.3 虚拟仪器的系统构成 | 第30-33页 |
| 4.3.1 虚拟仪器的硬件构成 | 第31-32页 |
| 4.3.2 虚拟仪器的软件构成 | 第32-33页 |
| 4.4 虚拟仪器软件开发平台AGILENT VEE | 第33-44页 |
| 4.4.1 Agilent VEE 概述 | 第34-35页 |
| 4.4.2 Agilent VEE 的特点 | 第35-36页 |
| 4.4.3 Agilent VEE 编程 | 第36-40页 |
| 4.4.4 基于Agilent VEE 的虚拟仪器实现 | 第40-44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 连接硬件自动测试系统 | 第45-66页 |
| 5.1 连接硬件自动测试系统构成 | 第45-49页 |
| 5.1.1 连接硬件自动测试系统的硬件构成 | 第45-49页 |
| 5.1.2 连接硬件自动测试系统的软件构成 | 第49页 |
| 5.2 基于AGILENT VEE 的应用程序设计 | 第49-62页 |
| 5.2.1 程序结构设计 | 第50-51页 |
| 5.2.2 程序模块设计与编写 | 第51-60页 |
| 5.2.3 应用程序的调试 | 第60-61页 |
| 5.2.4 用户界面设计 | 第61-62页 |
| 5.3 测试实例-近端串扰（NEXT） | 第62-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 结束语 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 攻读硕士期间已发表的论文 | 第70页 |
