UVM验证方法学在SSD主控SoC芯片验证中的应用
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第11-12页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第11页 |
| 1.3.2 设计要求和指标 | 第11-12页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第12-13页 |
| 第2章 功能验证及UVM验证方法学 | 第13-25页 |
| 2.1 功能验证 | 第13-15页 |
| 2.1.1 验证平台 | 第13-14页 |
| 2.1.2 功能验证流程 | 第14-15页 |
| 2.2 UVM验证方法学 | 第15-23页 |
| 2.2.1 验证平台和环境 | 第16页 |
| 2.2.2 接口UVCs | 第16-18页 |
| 2.2.3 系统和模块UVCs | 第18-19页 |
| 2.2.4 UVM类库 | 第19-20页 |
| 2.2.5 寄存器模型 | 第20-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-25页 |
| 第3章 SoC芯片架构和验证策略 | 第25-33页 |
| 3.1 芯片系统架构和逻辑设计 | 第25-28页 |
| 3.1.1 芯片系统架构 | 第25页 |
| 3.1.2 芯片逻辑设计 | 第25-28页 |
| 3.2 芯片验证策略 | 第28-32页 |
| 3.2.1 芯片验证重点 | 第28-29页 |
| 3.2.2 验证平台规划 | 第29-30页 |
| 3.2.3 激励产生方案 | 第30-32页 |
| 3.2.4 结果检查原则 | 第32页 |
| 3.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 芯片验证平台的构建 | 第33-59页 |
| 4.1 芯片仿真环境 | 第33-34页 |
| 4.2 验证平台组件设计 | 第34-48页 |
| 4.2.1 接口UVC | 第34-42页 |
| 4.2.2 模块和系统UVC | 第42-45页 |
| 4.2.3 寄存器模型 | 第45-48页 |
| 4.3 验证平台的集成 | 第48-55页 |
| 4.3.1 创建验证平台 | 第48-50页 |
| 4.3.2 配置验证平台 | 第50-51页 |
| 4.3.3 创建测试用例 | 第51-53页 |
| 4.3.4 虚拟时序发生器 | 第53-55页 |
| 4.4 仿真环境组件设计 | 第55-58页 |
| 4.4.1 仿真信息打印 | 第55-56页 |
| 4.4.2 仿真环境事件触发 | 第56-57页 |
| 4.4.3 软件验证环境 | 第57-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 芯片验证及其结果分析 | 第59-71页 |
| 5.1 芯片验证功能点 | 第59-60页 |
| 5.2 验证方法与结果 | 第60-68页 |
| 5.2.1 存储器接口验证 | 第60-61页 |
| 5.2.2 数据通路验证 | 第61-63页 |
| 5.2.3 AES和ECC验证 | 第63-64页 |
| 5.2.4 APB外设接口验证 | 第64-67页 |
| 5.2.5 芯片上电启动验证 | 第67-68页 |
| 5.3 验证结果分析 | 第68-70页 |
| 5.3.1 覆盖率分析 | 第68-69页 |
| 5.3.2 验证平台评测 | 第69-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-71页 |
| 第6章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 6.1 总结 | 第71页 |
| 6.2 展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第77页 |
