| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 引言 | 第9-17页 |
| 1.1 粒子物理学 | 第9-10页 |
| 1.2 标准模型 | 第10-12页 |
| 1.2.1 轻子 | 第11页 |
| 1.2.2 强子 | 第11-12页 |
| 1.3 粲偶素粒子及其研究意义 | 第12-14页 |
| 1.4 选题的物理意义与采用方法和文章的结构 | 第14-17页 |
| 1.4.1 选题的物理意义 | 第14页 |
| 1.4.2 单边重建方法 | 第14-15页 |
| 1.4.3 文章结构 | 第15-17页 |
| 2 北京正负电子对撞机(BEPCII)与北京谱仪(BESIII) | 第17-24页 |
| 2.1 北京正负电子对撞机(BEPCII) | 第17页 |
| 2.2 北京谱仪(BESIII) | 第17-22页 |
| 2.2.1 主漂移室(MDC) | 第18-19页 |
| 2.2.2 飞行时间计数器(TOF) | 第19-20页 |
| 2.2.3 电磁量能器(EMC) | 第20-21页 |
| 2.2.4 超导磁体(Superconduct Magnet) | 第21页 |
| 2.2.5 μ子鉴别器(Muon Identifier) | 第21-22页 |
| 2.3 第二章小结 | 第22-24页 |
| 3 J/Ψ→Σ~+(?)~-分析 | 第24-44页 |
| 3.1 数据样本和软件环境 | 第24页 |
| 3.2 事例选择 | 第24-27页 |
| 3.2.1 带电径迹选择 | 第24页 |
| 3.2.2 光子选择 | 第24-25页 |
| 3.2.3 粒子鉴别 | 第25-26页 |
| 3.2.4 π~0组合 | 第26页 |
| 3.2.5 Σ~+/(?)~-重建 | 第26-27页 |
| 3.3 本底分析 | 第27-29页 |
| 3.3.1 Inclusive MC本底分析 | 第27-29页 |
| 3.3.2 Sideband本底分析 | 第29页 |
| 3.4 误组合本底分析 | 第29-30页 |
| 3.5 连续谱本底分析 | 第30-31页 |
| 3.6 输入输出检查 | 第31-32页 |
| 3.7 角分布 | 第32-36页 |
| 3.7.1 角分布对MC的影响 | 第32-35页 |
| 3.7.2 MC效率修正 | 第35-36页 |
| 3.8 分支比的测量 | 第36-37页 |
| 3.9 系统误差 | 第37-42页 |
| 3.9.1 分支比系统误差测量 | 第37-39页 |
| 3.9.2 角分布的系统误差 | 第39-42页 |
| 3.10 第三章小结 | 第42-44页 |
| 4 Ψ(3686)→Σ~+(?)~- | 第44-60页 |
| 4.1 数据样本和软件环境 | 第44页 |
| 4.2 事例选择 | 第44-46页 |
| 4.2.1 带电径迹选择 | 第44页 |
| 4.2.2 光子选择 | 第44-45页 |
| 4.2.3 粒子鉴别 | 第45页 |
| 4.2.4 π~0组合 | 第45页 |
| 4.2.5 Σ~+/(?)~-重建 | 第45-46页 |
| 4.3 本底分析 | 第46-48页 |
| 4.4 误组合本底分析 | 第48-49页 |
| 4.5 连续谱本底分析 | 第49页 |
| 4.6 输入输出检查 | 第49-50页 |
| 4 7 角分布 | 第50-53页 |
| 4.7.1 角分布对MC的影响 | 第50-53页 |
| 4.7.2 MC效率修正 | 第53页 |
| 4.8 分支比的测量 | 第53-54页 |
| 4.9 系统误差 | 第54-58页 |
| 4.9.1 分支比系统误差测量 | 第54-56页 |
| 4.9.2 角分布的系统误差 | 第56-58页 |
| 4.10 第四章小结 | 第58-60页 |
| 5 总结 | 第60-63页 |
| 附录A | 第63-67页 |
| 1 角分布参数测量 | 第63-65页 |
| 2 MC效率修正 | 第65-67页 |
| 附录B 粒子物理实验数据分析中的误差 | 第67-72页 |
| B1 直接测量量间彼此相互独立与间接测量量关系未知的误差传递 | 第68-69页 |
| B2 直接测量量相互关联的误差传递 | 第69-71页 |
| B3 统计误差的计算 | 第71-72页 |
| 附录C 置信区间和置信上限 | 第72-74页 |
| 附录D 信号的统计显著性 | 第74-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 个人简历、攻读学位期间发表的论文与研究成果 | 第82页 |
