便携式引信综合测试系统研制
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 课题背景及研究意义 | 第10页 |
1.2 自动测试系统概述 | 第10-13页 |
1.2.1 自动测试系统发展过程 | 第10-11页 |
1.2.2 国外研究现状 | 第11-12页 |
1.2.3 国内研究现状 | 第12-13页 |
1.3 课题来源和主要研究内容 | 第13页 |
1.4 本文组织安排 | 第13-15页 |
第2章 总体方案 | 第15-20页 |
2.1 系统需求分析 | 第15-16页 |
2.1.1 系统功能和技术指标 | 第15-16页 |
2.1.2 软件设计需求 | 第16页 |
2.1.3 其它设计需求 | 第16页 |
2.2 总体设计方案 | 第16-18页 |
2.3 系统工作方式 | 第18-19页 |
2.4 小结 | 第19-20页 |
第3章 测试系统理论基础 | 第20-32页 |
3.1 引信延期时间测试原理 | 第20页 |
3.2 电阻测试原理 | 第20-22页 |
3.2.1 恒压源测电阻 | 第21页 |
3.2.2 电流源测电阻 | 第21-22页 |
3.3 噪声和干扰分析 | 第22-27页 |
3.3.1 电子系统内部的固有噪声 | 第23-25页 |
3.3.2 直流误差干扰 | 第25-27页 |
3.4 电流倒向法 | 第27-28页 |
3.5 锁相放大 | 第28-31页 |
3.5.1 锁相放大器工作原理 | 第28-29页 |
3.5.2 双通道锁相放大器 | 第29-30页 |
3.5.3 分段累加相关法 | 第30-31页 |
3.6 本章小结 | 第31-32页 |
第4章 系统硬件设计 | 第32-52页 |
4.1 微处理器及最小系统 | 第32-35页 |
4.1.1 微处理器选型 | 第32页 |
4.1.2 STM32性能和结构分析 | 第32-34页 |
4.1.3 STM32最小系统设计 | 第34-35页 |
4.2 测时模块 | 第35-41页 |
4.2.1 脉冲发生器 | 第36-39页 |
4.2.2 光耦隔离电路 | 第39-40页 |
4.2.3 脉冲检测电路 | 第40-41页 |
4.3 电阻测量 | 第41-49页 |
4.3.1 激励电源 | 第42-44页 |
4.3.2 信号调理模块 | 第44-48页 |
4.3.3 模数转换模块 | 第48-49页 |
4.4 测试通道切换电路 | 第49-51页 |
4.4.1 继电器控制I/O拓展 | 第49-50页 |
4.4.2 驱动电路 | 第50页 |
4.4.3 继电器选型 | 第50-51页 |
4.5 系统供电电源 | 第51页 |
4.6 本章小结 | 第51-52页 |
第5章 软件设计及分析 | 第52-61页 |
5.1 系统软件模块化分析 | 第52页 |
5.2 系统主程序结构 | 第52-53页 |
5.3 系统预处理 | 第53-54页 |
5.3.1 系统初始化 | 第53-54页 |
5.3.2 系统自检 | 第54页 |
5.4 测时模块 | 第54-55页 |
5.5 电阻测量模块 | 第55-58页 |
5.5.1 电阻测量函数实现 | 第56-57页 |
5.5.2 ADS1243驱动程序 | 第57-58页 |
5.6 其它模块 | 第58-59页 |
5.6.1 系统校准 | 第58-59页 |
5.6.2 数据存储 | 第59页 |
5.7 分段累加相关法 | 第59-60页 |
5.8 小结 | 第60-61页 |
第6章 仿真验证和系统调试 | 第61-68页 |
6.1 锁相放大器的仿真和实现 | 第61-64页 |
6.1.1 单通道锁相放大器仿真 | 第61-62页 |
6.1.2 双通道锁相放大器仿真 | 第62-64页 |
6.1.3 实物验证 | 第64页 |
6.2 测时模块调试 | 第64-65页 |
6.2.1 脉冲发生器 | 第64-65页 |
6.2.2 边沿检测电路 | 第65页 |
6.3 电阻测试模块调试 | 第65-67页 |
6.4 系统与产品联合调试 | 第67页 |
6.5 小结 | 第67-68页 |
第7章 总结和展望 | 第68-69页 |
7.1 总结 | 第68页 |
7.2 展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
附录A 实物图 | 第73-74页 |
在校期间发表的学术论文与研究成果 | 第74页 |