| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·当前国内外电气设备的温度监控研究现状 | 第10-11页 |
| ·研究电力系统电气设备温度综合监控的必要性 | 第11-12页 |
| ·论文的研究工作 | 第12-14页 |
| 第二章 二次测控保护设备温度控制系统功能分析及方案选择 | 第14-23页 |
| ·控温系统总体方案和要求 | 第14-15页 |
| ·基本要求 | 第14页 |
| ·主要性能指标 | 第14页 |
| ·温度控制系统的总体方案 | 第14-15页 |
| ·温度采集方案的设计 | 第15-18页 |
| ·温度采集方案 | 第15-17页 |
| ·温度采集方案的选择 | 第17-18页 |
| ·降温控制方案的设计 | 第18-20页 |
| ·降温控制方案 | 第18-19页 |
| ·降温控制方案的选择 | 第19-20页 |
| ·温控器单片机芯片选择 | 第20-21页 |
| ·主控电路方案的选择 | 第21-23页 |
| 第三章 二次测控保护设备控温系统硬件装配设计 | 第23-26页 |
| ·控温系统电路的设计 | 第23-25页 |
| ·温度采集部分设计 | 第23页 |
| ·控制输出电路 | 第23-24页 |
| ·键盘、显示电路 | 第24页 |
| ·通讯电路设计 | 第24-25页 |
| ·抗干扰及总装设计 | 第25-26页 |
| 第四章 二次测控保护设备温度控制系统软件设计与实现 | 第26-29页 |
| ·测控保护设备温度控制系统软件设计 | 第26-27页 |
| ·温度控制器软件设计 | 第27-29页 |
| 第五章 二次测控保护设备功能测试及结果分析 | 第29-32页 |
| ·测试方法 | 第29页 |
| ·标定温值测试及分析 | 第29-30页 |
| ·动态温控测量及分析 | 第30-31页 |
| ·系统测试 | 第31页 |
| ·系统调试问题分析 | 第31-32页 |
| 第六章 一次高压设备温度监控设计及方案选择 | 第32-39页 |
| ·一次高压设备温度监控的基本要求 | 第32页 |
| ·一次高压设备温度采集方式选择 | 第32-34页 |
| ·红外测温 | 第32-33页 |
| ·电信号温度测量 | 第33页 |
| ·光纤测温 | 第33-34页 |
| ·光纤温度传感器的比较与选择 | 第34-35页 |
| ·光纤光栅温度测温方案及实现方法 | 第35-37页 |
| ·光纤光栅测温系统工艺要求及性能 | 第37-39页 |
| 第七章 温度监测系统集成设计 | 第39-44页 |
| ·温度监测系统应用范围 | 第39页 |
| ·温度监测系统上位机结构设计 | 第39-40页 |
| ·温度监测系统上位机硬件选择 | 第40-41页 |
| ·温度监测系统上位机软件设计 | 第41-44页 |
| 第八章 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文情况 | 第48-49页 |
| 附录1 测控装置温控器主要元器件材料清单 | 第49-50页 |
| 附录2 测控装置温控器主控电路原理图 | 第50-51页 |
| 附录3 测控装置温控器主要软件程序清单 | 第51-61页 |