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不确定环境下半导体制造系统瓶颈预测与调度方法研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-13页
第一章 绪论第13-23页
   ·课题的研究背景和意义第13页
   ·半导体制造系统概况第13-17页
     ·半导体制造工艺流程第13-15页
     ·半导体制造系统组成第15-16页
     ·半导体制造系统性能指标第16-17页
     ·半导体制造系统特点第17页
   ·半导体制造系统瓶颈预测与调度方法研究现状第17-21页
     ·瓶颈判定方法研究现状第17-18页
     ·瓶颈预测方法现状第18-19页
     ·半导体制造系统调度方法研究现状第19-20页
     ·基于瓶颈的调度方法研究现状第20-21页
   ·论文结构安排第21-23页
第二章 半导体制造系统瓶颈设备判定第23-29页
   ·基于生产负荷与外部特征的瓶颈判定第23-25页
     ·设备生产负荷第23-24页
     ·设备的外部特征第24页
     ·设备综合瓶颈指数与瓶颈判定第24-25页
   ·基于滚动时域的瓶颈预测判定第25-27页
     ·滚动时域方法第25页
     ·瓶颈预测判定第25-27页
   ·小结第27-29页
第三章 半导体制造系统瓶颈设备预测第29-47页
   ·改进的自适应模糊推理系统第29-37页
     ·改进的 ANFIS 的结构辨识第29-31页
     ·改进的 ANFIS 结构第31-34页
     ·改进的 ANFIS 训练算法第34-37页
   ·改进的 ANFIS 在瓶颈预测中的应用第37-40页
     ·改进的 ANFIS 在等待时间预测中的应用第37-38页
     ·改进的 ANFIS 在瓶颈预测中的应用第38-40页
   ·仿真实验结果与分析第40-45页
   ·小结第45-47页
第四章 基于滚动时域与瓶颈预测的动态调度方法第47-57页
   ·动态 WIP 投料策略第47-48页
   ·基于滚动时域的分层动态调度算法第48-50页
     ·交货期优先级第49页
     ·层负荷优先级第49-50页
     ·加工时间优先级第50页
   ·仿真实验结果与分析第50-55页
   ·小结第55-57页
第五章 结论与展望第57-59页
   ·全文总结第57页
   ·展望第57-59页
参考文献第59-63页
致谢第63-65页
研究成果及发表的学术论文第65-67页
作者和导师简介第67-68页
附件第68-69页

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